ФТТ, 2003, том 45, выпуск 4

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Особенности сегрегации углерода на поверхности вольфрама

Н.Д.Потехина, Н.Р.Галль, Е.В.Рутьков, А.Я.Тонтегоде

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия

(Поступила в Редакцию 29 мая 2002 г.
В окончательной редакции 19 августа 2002 г.)

Выполнены новые измерения и проведен подробный анализ экспериментальных данных по зависимости равновесной степени покрытия углерода theta на поверхности вольфрама от температуры и степени предварительной науглероженности. Показано, что в случае свободного от углерода объема изменение theta при T>=q 1400 K может быть приближенно описано условием равновесия потоков углерода через границу при энергии активации перехода в объем E1=4.6 eV и энергии сегрегации Delta E=1.7 eV. Для предварительно науглероженного вольфрама со степенью науглероживания ~ 10-2 at.% зависимость theta(T) не может быть описана условиями равновесия с постоянными значениями E1 и Delta E --- эти величины зависят от степени науглероживания. E1 растет от 4.6 до 6.8 eV, a Delta E --- от 1.7 до 2.3 eV при изменении степени науглероживания от 0 до 10-2 at.%. Эти изменения интерпретируются как упрочение связей в науглероженном вольфраме с увеличением количества внедренного углерода.

Работа поддержана программой МН РФ \glqq Поверхностные атомные структуры\grqq (проект N 4.6.99).

 PDF версия (157Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2003, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster