ФТТ, 2003, том 45, выпуск 3

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Детектирование и исследование магнитных микро- и наноструктур с применением оптической микроскопии темного поля

В.И.Белотелов, А.С.Логгинов, А.В.Николаев

Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова,
119899 Москва, Россия
E-mail: bvi@osc.phys.msu.ru

(Поступила в Редакцию 8 апреля 2002 г.
В окончательной редакции 1 июля 2002 г.)

Проведено исследование особенностей формирования изображения магнитной микроструктуры при использовании различных геометрий магнитооптической микроскопии темного поля. Экспериментально и теоретически проанализированы возможности и ограничения метода темного поля в применении к магнитным исследованиям. Результаты экспериментов свидетельствуют о возможности магнитооптического детектирования локализованных магнитных образований размером меньше или порядка 0.1 mum. Для расчета углового спектра рассеянного на магнитных неоднородностях излучения в рассмотренной теоретической модели использован метод тензорных электродинамических функций Грина. В рамках теоретической модели предложена и проанализирована процедура, позволяющая визуализировать в реальном времени процесс перемагничивания уединенных монодоменных наночастиц или их регулярных матриц, изучать их динамические и статические характеристики.

Работа выполнена в рамках программы \glqq Университеты России --- фундаментальные исследования\grqq, INTAS (проект N 99-01839), а также при поддержке программы Российского фонда фундаментальных исследований \glqq Ведущие научные школы России\grqq --- школа В.В. Мигулина (проекты N 00-15-96782 и 01-02-16595).

 PDF версия (1.3Mb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2003, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster