ФТТ, 2003, том 45, выпуск 3

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Брэгговская дифракция света в искусственных опалах

А.В.Барышев, А.А.Каплянский, В.А.Кособукин, М.Ф.Лимонов, К.Б.Самусев, Д.Е.Усвят

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
E-mail: alex.baryshev@mail.ioffe.ru

(Поступила в Редакцию 16 июля 2002 г.)

Наблюдались картины трехмерной дифракции света на кристаллической структуре образцов искусственных опалов, образованной плотноупакованными шарами a-SiO2 субмикронных размеров. Установлено, что картина дифракции луча монохроматического света представляет собой ряд интенсивных максимумов, число и угловое положение которых зависят от длины волны и взаимной ориентации падающего луча и кристаллографических плоскостей образца. Дифракционные картины исследовались при наклонном падении света на ростовую поверхность образца (111) и при распространении света в плоскости (111) в направлениях, перпендикулярных оси роста образца. Для обеих геометрий рассеяния детально изучены спектрально-угловые зависимости интенсивности дифрагированного света. Экспериментальные данные интерпретированы в рамках модели, согласно которой основной вклад в наблюдаемые картины вносит брэгговская дифракция света на плотноупакованных слоях типа (111) гранецентрированной кубической решетки опала. Модель учитывает неупорядоченность чередования (111)-слоев вдоль оси роста образца, приводящую, в частности, к двойникованию гранецентрированной кубической решетки опала.

Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (гранты N 02-02-17689 и 02-02-17601).

 PDF версия (758Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2003, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster