ФТТ, 2000, том 42, выпуск 7

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Механо-химическое проникновение атомов гелия в эвтектические аморфные пленки Pd84.5--Si15.5 и Ni78--Si8--B14, деформированные растяжением в жидком 3He и 4He

О.В.Клявин, Б.А.Мамырин, Л.В.Хабарин, Ю.М.Чернов, В.З.Бенгус*,
Е.Д.Табачникова*, С.Э.Шумилин*

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
* Физико-технический институт низких температур Академии наук Украины,
310086 Харьков, Украина

(Поступила в Редакцию 24 ноября 1999 г.)

Обнаружено проникновение атомов гелия в деформированные в жидком гелии растяжением до разрыва аморфные эвтектические сплавы-пленки: Pd84.5--Si15.5 в 3He (T=0.5 K) и Ni78--Si8--B14 в 4He (T=4.2 K). Изучены спектры выделения гелия из этих материалов после деформации, полученные при их динамическом отжиге (4--5 K/min) при T=293-1323 K.Максимальное количество гелия обнаружено в областях локализованных пластических микросдвигов, проходящих через всю ширину пленок, затем в частях образцов, содержащих макротрещины разрушения и отдельные группы полос скольжения. Спектры выделения гелия из различных областей разрушенных образцов показали наличие нескольких пиков, часть из которых коррелирует с температурами кристаллизации и плавления изученных пленок. Полученные данные анализируются на основе модели механо-химического проникновения атомов гелия по динамически возбужденным дислокационноподобным дефектам, характерным для исследованных аморфных пленок.

Авторы выражают благодарность Российскому фонду фундаментальных исследований за частичную поддержку настоящей работы (грант N 99-03-32526).

 PDF версия (350Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2000, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster