Вышедшие номера
Резонанс фонона тонкой пленки с поверхностным поляритоном подложки
Яковлев В.А. 1, Новикова Н.Н. 1, Климин С.А. 1
1Институт спектроскопии РАН, Троицк, Москва, Россия
Email: yakovlev@isan.troitsk.ru, novik@isan.troitsk.ru, klimin@isan.troitsk.ru
Поступила в редакцию: 7 июня 2024 г.
В окончательной редакции: 7 июня 2024 г.
Принята к печати: 29 июля 2024 г.
Выставление онлайн: 25 октября 2024 г.

В слоистых структурах оптические эффекты, как правило, линейны по толщине пленки (при малых толщинах). Поэтому теоретически предсказанная В.М. Аграновичем корневая зависимость расщепления поверхностного поляритона (ПП) от толщины уникальна. В настоящей работе продемонстрированo расщепление кривой дисперсии ПП сапфира после нанесения на его поверхность пленки оксида магния. Величина этого расщепления прямо пропорциональна квадратному корню из толщины переходного слоя, как было предсказано теорией. Проведен обзор других экспериментов, подтверждающих теоретические выводы. Ключевые слова: поверхностные поляритоны, спектроскопия НПВО, тонкие пленки, дисперсионный анализ, кривые дисперсии, оксид магния, сапфир.