Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2024, выпуск 6 » Статья стр. 668
<<<>>>
Широкополосное антиотражающее композитное покрытие: влияние импульсной лазерной обработки на оптические свойства
Министерство образования Республики Беларусь, х Государственная программа научных исследований ” Цифровые и космические технологии, безопасность общества и государства“ , проект № 5.1.4.3
Комаров Ф.Ф. 1, Жукова М.Н.1, Мильчанин О.В. 1, Людчик О.Р. 2
1НИИ прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко БГУ, Минск, Беларусь
2Белорусский государственный университет, Минск, Республика Беларусь
Email: kovarovf@bsu.by, maryliss.lab@gmail.com, milchanin@tut.by, lyudchik@bsu.by
Поступила в редакцию: 12 марта 2024 г.
В окончательной редакции: 25 апреля 2024 г.
Принята к печати: 20 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 14 августа 2024 г.
PDF версия
Продемонстрирован разработанный метод лазерной обработки для формирования антиотражающих покрытий на основе композитных материалов, создаваемых путем наполнения эпоксидного полимера многостенными углеродными нанотрубками. Исследовано влияние профилирования поверхности композитных материалов импульсной лазерной обработкой на отражательную способность в УФ, видимом и ИК диапазонах длин волн (0.2-25 μm). Создан композитный материал и на нём сформированы структуры с низким коэффициентом отражения в указанном диапазоне длин волн. Оптические характеристики таких структур соответствуют стандартным требованиям к антиотражающим покрытиям оптоэлектронных и оптических систем авиакосмических аппаратов. Ключевые слова: многостенные углеродные нанотрубки, эпоксидный полимер, композитный материал, структурирование, импульсная лазерная обработка, широкополосное антиотражающее покрытие.
  1. J. Zhu, X. Yang, Z. Fu, C. Wang, W. Wu, L. Zhanbg. J. Porous Mater., 23(5), 1217 (2016). DOI: 10.1007/s10934-016-0180-5
  2. Y. Lin, J. He. Prog. Mater. Sci., 61, 94 (2014). DOI: 10.1016/j.pmatsci.2013.12.003
  3. M. Steglich, D. Lehr, S. Ratzsch, T. Kasebier, F. Schrempel, E. Kley, A. Tunnermann. Laser Photonics Rev., 8(2), L13 (2014). DOI: 10.1002/lpor.201300142
  4. Y. Sun, J. Evans, F. Ding, N. Liu, Y. Zhang, S. He. Opt. Express, 23(15), 20115 (2015). DOI: 10.1364/OE.23.020115
  5. M. Otto, M. Algasinger, H. Branz, B. Gesemann, T. Gimpel, K. Fuchsel, T. Kasebier, S. Kontermann, S. Koynov, X. Li, V. Naumann, J. Oh, A. Sprafke, J. Ziegler, M. Zik, R. Wehrspohn. Adv. Optical. Mater., 3(2), 147 (2015). DOI: 10.1002/adom.201400395
  6. F. De Nicola, P. Hines, M. Crescenzi, N. Motta. Phys. Rev. B, 96, 045409 (2017). DOI: 10.1103/PhysRevB.96.045409
  7. K. Amemiya, D. Fukuda, T. Numata, M. Tanabe, Y. Ichino. Appl. Opt., 51(29), 6917 (2012). DOI: 10.1364/AO.51.006917
  8. S. Azoubel, R. Cohen, Sh. Mugdassi. Surface and Coatings Technology, 262, 21 (2015). DOI: 10.1016/j.surfcoat.2014.11.063
  9. D. Das, A. Banerjee. Appl. Surf. Sci., 345, 204 (2015). DOI: 10.1016/j.apsusc.2015.03.124
  10. C.J. Chunnilall, J.H. Lehman, E. Theocharous, A. Sanders. Carbon, 50, 5340 (2012). DOI: 10.1016/j.carbon.2012.07.014
  11. J.Y. Liu, M. Soltani, R.K. Dey, B. Cui, R. Lee, H. Podmore. J. Vac. Sci. Technol., 36(6), 06JG01 (2018). DOI: 10.1116/1.5050986
  12. S. Chuang, H. Chen, J. Shieh, C. Lin, C. Cheng, H. Liu, C. Yu. Nanoscale, 2, 799 (2010). DOI: 10.1039/C0NR00010H
  13. T. Uchida, M. Moro, S. Hiwasa, J. Taniguchi. In: 2015 International Conference on Electronics Packaging and iMAPS All Asia Conference (ICEP-IAAC) (Kyoto, 2015), p. 422. DOI: 10.1109/ICEP-IAAC.2015.7111049
  14. K. Amemiya, H. Koshikawa, T. Yamaki, Y. Maekawa, H. Shitomi, T. Numata, K. Kinoshita, M. Tanabe, D. Fukuda. Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B, 356, 154 (2015). DOI: 10.1016/j.nimb.2015.05.002
  15. I.N. Parkhomenko, L.A. Vlasukova, I.D. Parfimovich, F.F. Komarov, L.S. Novikov, V.N. Chernik, D.V. Zhigulin. Acta Astronautica, 204, 124 (2023). DOI: 10.1016/j.actaastro.2022.12.046
  16. W. Sun, A. Du, Y. Feng, J. Shen, S. Huang, J. Tang, B. Zhou. ACS Nano, 10, 9123 (2016). DOI: 10.1021/acsnano.6b02039
  17. K. Mizuno, J. Ishii, H. Kishida, Y. Hayamizu, S. Yasuda, N. Futaba, M. Yumura, K. Hata. PNAS, 106(15), 6044 (2009). DOI: 10.1073/pnas.090015510
  18. Z-P. Yang, L. Ci, J.A. Bur, S-Y. Lin, P.M. Ajayan. Nano Lett., 8(2), 446 (2008). DOI: 10.1021/nl072369t
  19. P.B. Clapham, M.C. Hutrley. Nature, 244, 281 (1973). DOI: 10.1038/244281a0
  20. A.R. Parker, H.E. Townley. Nat. Nanotechol., 2, 347 (2007). DOI: 10.1038/nnano.2007.152
  21. O. Zhao, T. Fan, J. Ding, D. Zhang, Q. Guo, M. Kamada. Carbon, 49, 877 (2011). DOI: 10.1016/j.carbon.2010.10.048
  22. S. J. Wilson, M. C. Hutley. Optica Acta: International J. Optics, 29 (7), 993 (1982). DOI: 10.1080/713820946
  23. S. Ji, J. Park, H. Lim. Nanoscale, 4, 4603 (2012). DOI: 10.1039/C2NR30787A
  24. J. Lehman, C. Yung, N. Tomlin, D. Conklin, M. Stephens. Appl. Phys. Rev., 5, 011103 (2018). DOI: 10.1063/1.5009190
  25. Углеродный наноматериал "Таунит". [Электронный ресурс]. URL: http://www.rusnanonet.ru/goods/20235/

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme