Температурная зависимость спектров оптических постоянных CdTe в области края поглощения
Министерство науки и высшего образования РФ, проект № 0242-2022-0002
Швец В.А.
1,2, Марин Д.В.
1,2, Якушев М.В.
1, Рыхлицкий С.В.
11Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
2Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
Email: shvets@isp.nsc.ru, marin@isp.nsc.ru, yakushev@isp.nsc.ru, rhl@isp.nsc.ru
Поступила в редакцию: 16 июля 2023 г.
В окончательной редакции: 14 сентября 2023 г.
Принята к печати: 1 октября 2023 г.
Выставление онлайн: 13 ноября 2023 г.
В работе исследованы спектры оптических постоянных эпитаксиальных слоёв теллурида кадмия вблизи края фундаментального поглощения. Для этого были проведены эллипсометрические измерения исследуемых слоёв в вакуумной камере в температурном интервале от T = 38oC до 275oС. Разработан численный алгоритм решения обратной задачи эллипсометрии для рассматриваемых структур, с помощью которого определены спектральные зависимости показателей преломления n(λ) и поглощения k(λ) в диапазоне длин волн от 700 до 1000 nm. Представлены параметрические зависимости k(λ, T) в области фундаментального поглощения и в области прозрачности. Установлено наличие протяжённого хвоста поглощения в области прозрачности, связанного предположительно с нарушениями кристаллической структуры. Ключевые слова: эллипсометрия, кадмий теллур, спектры оптических постоянных, край фундаментального поглощения, температура. DOI: 10.61011/OS.2023.09.56607.4866-23
- S. Adachi, T. Kimura, N. Suzuki. J. Appl. Phys., 74 (5), 3435 (1993). DOI: 10.1063/1.354543
- C.C. Kim, M. Daraselia, J.W. Garland, S. Sivananthan. Phys. Rev. B, 56 (8), 4786 (1997). DOI: 10.1103/PhysRevB
- Л.А. Косяченко, В.М. Склярчук, О.В. Склярчук, О.Л. Маслянчук. ФТП, 45 (10), 1323 (2011)
- A.I. Kashuba, B.V. Andrievskcd, H.A. Ilchuk, M. Piasecki, I.V. Semkiv, R.Yu. Petrus. Журн. Бел. гос. университета. Физика, 2, 88 (2021). DOI: 10.33581/2520-2243-2021-2-88-95
- L. Verma, A. Rhare. In: 2022 IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng., 1263, 012017. DOI: 10.1088/1757-899X/1120/1/012019
- В.А. Швец, И.А. Азаров, Д.В. Марин, М.В. Якушев, С.В. Рыхлицкий. ФТП, 53 (1), 137 (2019). DOI: 10.21883/FTP.2019.01.47001.8947
- D.V. Marin, V.A. Shvets, I.A. Azarov, M.V. Yakushev, S.V. Rykhlitskii. Infrared Phys. and Technol., 116. Article 103793 (2021). DOI: 10.1016/j.infrared.2021.103793
- Y. Chang, G. Badano, J. Zhao, Y.D. Zhou, R. Ashokan, C.H. Grein, V. Nathan. J. Electron. Mater., 33, 709 (2004). DOI: 10.1007/s11664-004-0070-5
- Ю.Г. Сидоров, С.А. Дворецкий, В.С. Варавин, Н.Я. Михайлов, М.В. Якушев, И.В. Сабинина. ФТП, 35 (9), 1092 (2001)
- Е.В. Спесивцев, С.В. Рыхлицкий, В.А. Швец. Автометрия, 47 (5), 5 (2011)
- Р. Аззам, Н. Башара. Эллипсометрия и поляризованный свет (Мир, М., 1981), 583 с
- S. Adachi. Optical constants of crystalline and amorphous semiconductors: Numerical data and graphical information (Kluwer Academic Publishers, Boston/Dresden/London, 1999). DOI: 10.1007/978-1-4615-5247-5
- D.A.G. Bruggeman. Ann. Phys., 416 (7), 636 (1935). DOI: 10.1002/andp.19354160705
- H. Kuzmany. Solid-State Spectroscopy: An Introduction (Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-N.Y., 1998). DOI: 10.1007/978-3-642-01479-6
- Y. Chang, S. Guna, C.H. Grein, S. Velicu, M.E. Flatte, V. Nathan, S. Sivananthan. J. Electron. Mater., 36 (8), 1000 (2007). DOI: 10.1007/s11664-007-0162-0
- F. Urbach, Phys. Rev., 92, 1324 (1953)
- Y. Chang, G. Badano, J. Zhao, Y.D. Zhou, R. Ashokan, C.H. Grein, V. Nathan. J. Electron. Mater., 33, 709 (2004). DOI: 10.1007/s11664-004-0070-5
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
