Влияние интерференции в тонких пленках на оптические характеристики голограмм, зарегистрированных на слоях As-Se
Ганжерли Н.М.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: nina.holo@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 14 апреля 2023 г.
В окончательной редакции: 14 апреля 2023 г.
Принята к печати: 8 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 29 сентября 2023 г.
Проведена оценка влияния интерференции в тонких пленках на оптические характеристики голограмм, зарегистрированных на слоях халькогенидного стеклообразного полупроводника системы As-Se. Измерены изменения величины отражения, пропускания и оптической разности хода лучей в процессе воздействия актиничного излучения He-Ne-лазера на слои. Показано, что интерференционные явления в тонких пленках приводят к колебаниям этих характеристик, а также к колебанию дифракционной эффективности голограмм при изменении толщины слоя. Ключевые слова: интерференция в тонких пленках, халькогенидные стеклообразные полупроводники, показатель преломления, отражение, пропускание, оптическая разность хода лучей, дифракционная эффективность голограмм. DOI: 10.61011/OS.2023.08.56299.4859-23
- В.А. Барачевский Опт. и спектр, 124 (3), 371 (2018). DOI: 10.21883/OS.2018.03.45659.238-17 [V.A. Barachevsky. Opt. Spectrosc, 124 (3), 373 (2018). DOI: 10.1134/S0030400X18030062]
- G. Brandes, F.P. Laming, A.D. Pearson. Applied Optics, 9 (7), 1712 (1970). DOI: 10.1364/AO.9.001712
- A.D. Pearson, B.G. Bagley. Mat. Res. Bull., 42 (12), 4908 (1971)
- В.Е. Карнатовский, В.И. Наливайко, В.Г. Цукерман. Квант. электрон., 3 (1), 219 (1976) [V.E. Karnatovsriy, V.N. Naliwaiko, V.G. Zukerman. Soviet Journal of Quantum Electronics, 6 (1), 121 (1976). DOI: 10.1070/QE1976v006n01ABEH010856]
- А.Н. Покровский, М.А. Пономарев, О.Я. Абель, А.Н. Соснов. В сб.: VIII Междунар. науч. конгресс Интерэкспо Гео-Сибирь-2012 (СГГА, Новосибирск, 2012), т. 1, с. 121-125
- Н.А. Ивлиев, А.П. Порфирьев, В.В. Подлипнов, С.Н. Хонина, А.Ю. Мешалкин. В сб.: XVIII Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям, под ред. А.Ю. Жердева (МГТУ им. Н.Э. Баумана, М., 2021), с. 178-181
- А.М. Настас, М.С. Иову, А.Л. Толстик. Опт. и спектр., 128 (2), 236 (2020). DOI: 10.21883/0000000000 [A.M. Nastas, M.S. Iovu, A.L. Tolstik. Opt. Spectrosc., 128 (2), 231 (2020). DOI: 10.1134/S0030400X20020174]
- Н.А. Богословский, К.Д. Цэндин. ФТП, 46 (5), 577 (2012)
- В.Н. Борисов, Н.В. Муравьев, М.В. Попов, Р.А. Окунь, А.Е. Ангервакс, Г.Н. Востриков, С.А. Козюхин, С.А. Иванов. В сб.: XVIII Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям, под ред. А.Ю. Жердева (МГТУ им. Н.Э. Баумана, М., 2021), с. 276-284
- Е.Н. Борисов, А.С. Тверьянович. Способ записи информации на халькогенидных пленках. Патент РФ N2298839. 10.05.2007
- А.М. Настас, А.М. Андриеш, В.В. Бивол, А.М. Присакар, Г.М. Тридух. Письма в ЖТФ, 32 (1), 89 (2006) [A.M. Nastas, A.M. Andriesh, B.B. Bivol, G.M. Prisakar, G.M. Tridukh. Tech. Phys. Lett., 32 (1), 45 (2006)]
- О.В. Ясенюк. Оптическая спектроскопия халькогенидных стекол (As4S3Se3)1-xSnx Автореф. докт. дис. (Институт прикладной физики. Кишинёв, 2015), 130 с. http://www.cnaa.md/files/theses/2015/23259/ oxana_iaseniuc_astract_ru.pd
- А.В. Михельсон, Т.И. Папушина, А.А. Повзнер, А.Г. Гофман. Волновая оптика: учебное пособие под общ. ред. А.А. Повзнера (Изд-во Урал. ун-та, Екатеринбург, 2013), с. 11-12
- W.B. Klein, B.D. Cook, W.G. Mayer. Acustica, 15 (2), 67 (1965)
- Р. Кольер, К. Беркхарт, Л. Лин. Оптическая голография. Пер. с англ. под ред. Ю.И. Островского (Мир, М., 1973), с. 256-259 [Robert I. Collier, Christoph B. Burckhart, Lawrence H. Lin. Optical Holography (Bell Telephone Laboratories, Murray Hill, New Jersey. Academic Press, New York and London, 1971), 605 p
- С.Н. Корешев. Основы голографии и голограммной оптики (Университет ИТМО, Санкт-Петербург, 2016), с. 35-38
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
