Влияние шума на характеристики тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку, в режиме высокочастотной генерации колебаний
Сельский А.О.1, Москаленко О.И.1, Короновский А.А.1
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: selskiiao@gmail.com
Поступила в редакцию: 2 декабря 2021 г.
В окончательной редакции: 27 января 2022 г.
Принята к печати: 22 марта 2022 г.
Выставление онлайн: 14 мая 2022 г.
Рассмотрено влияние шума на характеристики тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку наноприбора, имеющего перспективы использования в терагерцовой спектроскопии. Показано, что пороговое напряжение, при котором начинается генерация колебаний тока, слабо зависит от интенсивности шума. Амплитуда колебаний вырастает при некоторых значениях интенсивности шума как для случая без магнитного поля, так и в присутствии наклонного магнитного поля. При этом с ростом интенсивности шума при развитой генерации колебаний частота основной гармоники уменьшается, а амплитуды старших гармоник могут существенно уменьшаться. Ключевые слова: полупроводниковые сверхрешетки, СВЧ приборы, высокочастотная спектроскопия, добавленный шум, спектральный анализ.
- M. Tonoпuchi. Nature Photonics, 1, 97-105 (2007). DOI: 10.1038/nphoton.2007.3
- C. Yu, S. Fan, Y. Sun, E. Pickwell-MacPherson. Quant. Imaging Med. Surg., 2, 33-45 (2012). DOI: 10.3978/j.issn.2223-4292.2012.01.04
- S. Bartalini, L. Consolino, P. Cancio, P. De Natale, P. Bartolini, A. Taschin, M. De Pas, H. Beere, D. Ritchie, M.S. Vitiello, R. Torre. Phys. Rev. X, 4, 021006 (2014). DOI: 10.1103/PhysRevX.4.021006
- T. Kashiwagi. Appl. Phys. Lett., 104, 082603 (2014). DOI: 10.1063/1.4866898
- D.K. Polyushkin, I. Marton, P. Racz, P. Dombi, E. Hendry, W.L. Barnes. Phys. Rev. B, 89, 125426 (2014). DOI: 10.1103/PhysRevB.89.125426
- A.O. Selskii, A.A. Koronovskii, A.E. Hramov, O.I. Moskalenko, K.N. Alekseev, M.T. Greenaway, F. Wang, T.M. Fromhold, A.V. Shorokhov, N.N. Khvastunov, A.G. Balanov. Phys. Rev. B, 84, 235311 (2011). DOI: 10.1103/PhysRevB.84.235311
- V.L. Bratman, A.E. Fedotov, Y.K. Kalynov. IEEE Transactions on Plasma Science, 27 (2), 456-461 (1999). DOI: 10.1109/27.772273
- M.K. Hornstein, V.S. Bajaj, R.G. Griffin. IEEE Transactions on Electron Devices, 52 (5), 798-807 (2005). DOI: 10.1109/TED.2005.845818
- A. Wacker. Phys. Rep., 357, 1-111 (2002). DOI: 10.1016/S0370-1573(01)00029-1
- J.B. Gunn. IBM J. Res. Dev., 8, 141 (1964). DOI: 10.1147/rd.82.0141
- A.E. Hramov, A.A. Koronovskii, S.A. Kurkin, V.V. Makarov, M.B. Gaifullin, K.N. Alekseev, N. Alexeeva, M.T. Greenaway, T.M. Fromhold, A. Patane, F.V. Kusmartsev, V.A. Maximenko, O.I. Moskalenko, A.G. Balanov. Phys. Rev. Lett., 112, 116603 (2014). DOI: 10.1103/PhysRevLett.112.116603
- A.A. Koronovskii, A.E. Hramov, V.A. Maximenko, I.O. Moskalenko, K.N. Alekseev, M.T. Greenaway, T.M. Fromhold, A.G. Balanov. Phys. Rev. B, 88, 165304 (2013). DOI: 10.1103/PhysRevB.88.165304
- A. Wacker, G. Schwarz, F. Prengel, E. Scholl, J. Kastrup, H.T. Grahn. Phys. Rev. B, 52, 13788 (1995). DOI: 10.1103/PhysRevB.52.13788
- J. Hizanidis, A. Balanov, A. Amann, E. Scholl. Phys. Rev. Lett., 96, 244104 (2006). DOI: 10.1103/PhysRevLett.96.244104
- J. Hizanidis, A. Balanov, A. Amann, E. Scholl. Intern. J. Bifurcation and Chaos, 16, 1701-1710 (2006). DOI: 10.1142/S0218127406015611
- E. Mompo, M. Ruiz-Garcia, M. Carretero, H.T. Grahn, Y. Zhang, L.L. Bonilla. Phys. Rev. Lett., 121, 086805 (2018). DOI: 10.1103/PhysRevLett.121.086805
- T.M. Fromhold, A. Patane, S. Bujkiewicz, P.B. Wilkinson, D. Fowler, D. Sherwood, S.P. Stapleton, A.A. Krokhin, L. Eaves, M. Henini, N.S. Sankeshwar, F.W. Sheard. Nature, 428, 726-730 (2004). DOI: 10.1038/nature02445
- R. Scheuerer, E. Schomburg, K.F. Renk, A. Wacker, E. Scholl. Appl. Phys. Lett., 81, 1515-1517 (2002). DOI: 10.1063/1.1500770
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
