Вышедшие номера
Оптические и электрохромные свойства тонких пленок амбиполяных полиимидов с пендантными группами на основе производных тоиксантенона
Кручинин В.Н.1, Одинцов Д.С.2, Шундрин Л.А.2, Шундрина И.К.2, Рыхлицкий С.В.1, Спесивцев Е.В.1, Гриценко В.А.1,3,4
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
2Институт органической химии им. Н.Н. Ворожцова СО РАН, Новосибирск, Россия
3Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
4Новосибирский государственный технический университет, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 23 июня 2021 г.
В окончательной редакции: 3 августа 2021 г.
Принята к печати: 5 августа 2021 г.
Выставление онлайн: 3 сентября 2021 г.

Методами спектральной эллипсометрии, спектрофотометрии и спектроэлектрохимии исследованы оптические и электрохромные свойства тонких пленок, полученных методом центрифугирования из растворов, содержащих амбиполярные полиимиды с пендантными группами на основе 9H-тиоксантен-9-она и его S-диоксидного производного. Показано, что спектральные зависимости показателя преломления и коэффициента поглощения, а также электрохромные свойства тонких пленок полиимидов в условиях электрохимического восстановления и окисления сильно зависят от типа пендантной группы. На основании оценок ширины запрещенной зоны сделан вывод о возможном перспективном использовании тонких пленок полиимидов в качестве рабочих слоев в мемристорах нового типа. Ключевые слова: мемристоры, диэлектрические пленки, амбиполярные полиимиды, эллипсометрия, электрохромизм.
  1. Gritsenko V.A., Islamov D.R. Physics of Dielectric Films: Charge Transport Mechanism and Physical Principles of Memory Devices. Novosibirsk: Parallel, 2017. 351 p
  2. Nasyrov K.A., Gritsenko V.A. // Physics Uspekhi. 2013. V. 56. P. 999
  3. Frenkel J. // Phys. Rev. 1938. V. 54. N 8. P. 647
  4. Gismatulin A.A., Orlov O.M., Gritsenko V.A., Krasnikov G.Ya. Chaos, Solitons, and Fractals. 2021. V. 142. P. 110458
  5. Lin W.-P., Liu S.-J., Gong T., Zhao Q., Huang W. // Adv. Mater. 2014. V. 26. P. 570
  6. Ling Q.-D., Liaw D.-J., Zhu C., Chan D.S.-H., Kang E.-T., Neoh K.-G. // Prog. Polym. Sci. 2008. V. 33. P. 917
  7. Kim Y., Cook S., Choulis S.A., Nelso J., Durrant J.R., Bradley D.D.C. // Chem. Mater. 2004. V. 16. P. 4812
  8. Kim Y., Oh E., Choi D., Ha C.S. // Nanotechnology. 2004. V. 15. P. 149
  9. Liu Y., Zhou Z., Qu L., Zou B., Chen Z., Zhang Y., Liu S., Chi Z., Chena X., Xu J. // Mater. Chem. Front. 2017. V. 1. P. 326
  10. Heremans P., Gelinck G.H., Muller ., Baeg K.J., Kim D.Y., Noh Y.Y. // Chem. Mater. 2011. V. 23. P. 341
  11. You N.H., Chueh C.C., Liu C.L., Ueda M., Chen W.C. // Macromolecules. 2009. V. 42. P. 4456
  12. Hu Y.-C., Chen C.-J., Yen H.-J., Lin K.-Y., Yeh J.-M., Chenac W.-C. Liou G.-S. // J. Mater. Chem. 2012. V. 22. P. 20394
  13. Odintsov D.S., Shundrina I.K., Os'kina I.A., Oleynik I.V., Beckmann J., Shundrin L.A. // Polym. Chem. 2020. V. 11. P. 2243
  14. Рыхлицкий С.В., Спесивцев Е.В., Швец В.А., Прокопьев В.Ю. // Приборы и техника эксперимента. 2012. Т. 2. С. 161
  15. Tompkins H., Irene E.A. Handbook of Ellipsometry. William Andrew Publishing, Springer, 2005
  16. Гриценко В.А., Кручинин В.Н., Просвирин И.П., Новиков Ю.Н., Чин А., Володин В.А. // ЖЭТФ. 2019. Т. 159. Вып. 5(11). С. 1003. doi 10.1134/S0044451019110166
  17. Vasilieva N.V., Irtegova I.G., Loskutov V.A., Shundrin L.A. // Mendeleev Commun. 2013. V. 23. P. 334
  18. Mazur S., Lugg P.S., Yarnitzky C. // J. Electrochem. Soc.: Electrochem. Sci. Technol. 1987. V. 134. N 2. P. 346

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.