Вышедшие номера
Оптические характеристики неоднородного слоя титаната бария, легированного европием
Стаськов Н.И. 1, Сотский А.Б. 1, Сотская Л.И. 2, Гапоненко Н.В. 3, Лашковская Е.И.3, Петлицкий А.Н.4, Козлов А.А.5
1Могилевский государственный университет имени А.А. Кулешова, Могилев, Беларусь
2Белорусско-Российский университет, Могилев, Беларусь
3Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск, Беларусь
4Белмикросистемы НТЦ Филиал ОАО Интеграл, Минск, Беларусь
5Пермский государственный национальный исследовательский университет, Пермь, Россия
Email: ni_staskov@mail.ru, ab_sotsky@mail.ru, li_sotskaya@tut.by, nik@nano.bsuir.edu.by, katerinaxy90@gmail.com
Поступила в редакцию: 26 ноября 2020 г.
В окончательной редакции: 24 декабря 2020 г.
Принята к печати: 26 декабря 2020 г.
Выставление онлайн: 26 января 2021 г.

Разработан алгоритм решения обратной задачи многоугловой спектрофотометрии неоднородной поглощающей пленки, основанный на полиномиальных представлениях плотности материала пленки и его комплексного коэффициента рефракции. Алгоритм применен для определения спектральных и пространственных распределений показателей преломления и поглощения пленки титаната бария, легированного европием. Пленка нанесена по золь-гель-технологии на слой диоксида кремния, находящийся на кремниевой подложке. Корректность полученного решения проверена сравнением рассчитанных и измеренных спектров эллипсометрических углов и спектров отражательной способности структуры при нормальном падении света. Легирование европием титаната бария приводит к уменьшению длины волны, соответствующей краю полосы собственного поглощения, увеличению ширины запрещенной зоны материала в приповерхностном слое пленки и снижению концентрации европия вглубь пленки. Ключевые слова: многоугловая спектрофотометрия, эллипсометрия, неоднородный поглощающий слой, оптические характеристики титаната бария, легированного европием.
  1. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K., Amotchkina T.V., DeBell G., Pervak V., Krasilnikova Sytchkova A., Grilli M.L., Ristau D. // Applied Optics. 2011. V. 50. N 9. P. C75. doi 10.1364/AO.50.000C75
  2. Стаськов Н.И., Сотский А. Б., Михеев С.С., Гапоненко Н.В., Холов П.А., Райченок Т.Ф. // ЖПС. 2020. Т. 87. N 6. С. 918
  3. Karvounis A., Timpu F., Vogler-Neuling V.V., Savo R., Grange R. // Advanced Optical Materials. 2020. P. 202001249. doi 10.1002/adom.202001249
  4. Strek W., Hreniak D., Boulon G., Guyot Y., Pazik R. // Optical Material. 2003. V. 24. N 1-2. P. 15. doi 10.1016/S0925-3467(03)00099-5
  5. Gaponenko N.V., Kholov P.A., Raichenok T.F., Prislopski S.Ya. // Optical Materials. 2019. V. 96. P. 109265. doi 10.1016/j.optmat.2019.109265
  6. Kim B.G., Parikh K.S., Ussery G., Zakhidov A., Baughman R.H., Yablonovitch E., Dunn B.S. // Appl. Phys. Lett. 2002. V. 81. P. 4440. doi 10.1063/1.1526163
  7. Polman A. // J. Appl. Phys. 1997. V. 82. N 1. P. 1. doi 10.1063/1.366265
  8. Vredenberg A.M., Hunt N.E.J., Schubert E.F., Jacobson D.C., Poate J.M., Zydzik G.J. // Phys. Rev. Lett. 1993. V. 71. P. 517. doi 10.1103/PhysRevLett.71.517
  9. Пшеницын В.И., Абаев М.И., Лызлов Н.Ю. Эллипсометрия в физико-химических исследованиях. Л.: Химия, 1986. 41 с
  10. Сотский А.Б., Кривецкий К.Н., Парашков С.О., Сотская Л.И. // ЖПС. 2016. Т. 83. N 5. С. 809. doi 10.1007/s10812-016-0373-3
  11. Wemple S.H., Didomenico E.M., Camlibel I. // J. Phys. Chem. Solids. 1968. V. 29. P. 1797. doi 10.1016/0022-3697(68)90164-9
  12. Стаськов Н.И., Мухаммедмурадов А.А., Крекотень Н.А., Парашков С.О. // ЖПС. 2020. Т. 87. N 1. С. 122. doi 10.1007/s10812-020-00970-y
  13. Kenyon A.J. // Progress in Quantum Electronics. 2002. V. 26. P. 225--284. doi 10.1016/S0079-6727(02)00014-9

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.