Сдвиговый спекл-интерферометр с квадролинзой
Минобрнауки России, RFMEFI59519X0005
Вишняков Г.Н.1,2, Минаев В.Л.1, Иванов А.Д.1, Виноградов Ф.Ю.1
1ФГУП "ВНИИОФИ", Москва, Россия
2Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Москва, Россия
Email: vish@vniiofi.ru, minaev@vniiofi.ru, acaemi@ya.ru
Выставление онлайн: 22 июля 2020 г.
Предложен новый оптический элемент - квадролинза, которая использована в составе сдвигового спекл-интерферометра (шерографа) для обеспечения измерений напряженно-деформированных состояний объектов одновременно в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Квадролинза состоит из четырех одинаковых секторов, вырезанных из исходной круглой линзы и разнесенных друг от друга с образованием зазоров. Квадролинза строит четыре изображения объекта, смещенных относительно оптической оси на расстояние, которое зависит от величины зазоров между секторами. Восстановление фазы по одной спекл-интерферограмме проводится методом пространственного фазового сдвига на основе преобразования Фурье. Для повышения контраста интерференционных полос перед секторами квадролинзы устанавливается апертурная диафрагма с четырьмя отверстиями, а для разделения каналов и уменьшения влияния перекрестной интерференции может использоваться поляризационная развязка каналов. Приведены экспериментальные результаты использования спекл-интерферометра с квадролинзой по исследованию микродеформации круглой мембраны. Ключевые слова: сдвиговый спекл-интерферометр, шерограф, квадролинза, дефектоскопия.
- Steinchen W., Yang L. Digital Shearography: Theory and Application of Digital Speckle Pattern Shearing Interferometry. USA. 2003. 330 p
- James C. Wyant, Phase-Shifting Interferometry. https://wp.optics.arizona.edu/jcwyant/wpcontent/uploads/sites/ 13/2016/08/Phase-Shifting-Interferometry.nb\_.pdf
- Takeda M., Ina H., Kobayashi S. // J. Opt. Soc. Am. 1982. V. 72. N 1. P. 156. doi 10.1364/JOSA.72.000156
- Zhao Q., Dan X., Sun F., Wang Y., Wu S., Yang L. // Appl. Sci. 2018. V. 8. P. 2662. doi 10.3390/app8122662
- Nakdate S., Yatagi T., Saito H. // Appl. Optics. 1980. V. 19. N 24. P. 4241. doi 10.1364/AO.19.004241
- Murthy R.K., Sirohi R.S, Kothiyal M.P. // Appl. Optics. 1982. V. 21. N 16. P. 2865. doi 10.1364/AO.21.2865\_1
- Власов Н.Г., Пресняков Ю.П. // Квант. электрон. 1973. Т. 14. N 2. C. 80
- Wang Y., Gao X., Xie X., Wu S., Liu Y., Yang L. // Opt. Lasers Eng. 2016. V. 87. P. 197. doi 10.1016/j.optlaseng.2015.12.009
- Xie X., Lee C., Li J., Zhang B., Yang L. // Rev. Sci. Instrum. 2016. V. 87(8). P. 083110. doi 10.1063/1.4961473
- Peizheng Y., Fangyuan S., Xizuo D., Qihan Z., Yonghong W., Yu L. // Optical Engineering. 2019. V. 58(5). P. 054105. doi 10.1117/1.OE.58.5.054105
- Barrera E.S., Analucia F., Willemann P., Benedet D.M., Armando J. // Opt. Lasers Eng. 2018. V. 111. P. 86. doi 10.1016/j.optlaseng.2018.07.018
- Ivanov A.D., Minaev V.L., Vishnyakov G.N., Levin G.G. // Meas Tech. 2019. V. 62. P. 95. doi 10.1007/s11018-019-01697-9
- Jacquot P. Interferometry in Speckle Light: Theory and Applications. 2000. P. 144. doi 10.1007/978-3-642-57323-1
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
