Вышедшие номера
Влияние протонного облучения на свойства стекла с покрытием ITO
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19110146
Хасаншин Р.Х. 1,2, Новиков Л.С. 3,4
1Акционерное общество "Композит", Королев Московской обл., Россия
2Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Москва, Россия
3Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
4Национальный исследовательский университет "Высшая школа экономики", Москва, Россия
Email: rhkhas@mail.ru, novikov@sinp.msu.ru
Выставление онлайн: 20 октября 2019 г.

Исследованы изменения морфологии поверхностей и оптических свойств образцов стекла К208 с пленкой ITO в результате воздействия протонов с энергией 20 keV и дозой 0.2-1.0 mC/cm2 при плотности протонного тока 9 nA/cm2. Экспериментально показано, что наличие пленки ITO влияет на характер изменения морфологии и является основной причиной деградации оптических свойств образцов при протонном облучении. Ключевые слова: спектр отражения, атомно-силовая микроскопия, немостиковый кислород, микровыступы. -19
  1. Ferguson D.C., Wimberly S.C. // Proceed. 50th AIAA Aerospace Sci. Mtg. January, 2013. Nashville, Tennessee. AIAA 2013-0810. doi 10.2514/6.2013-810
  2. Hirokazu Masui, Kazuhiro Toyoda, Mengu Cho // IEEE Trans. on Plasma Sci. 2008. V. 36. P. 2387-2394. doi 10.1109/TPS.2008.2003191
  3. Cho M., Kawakita S., Nakamura M., et al. // J. Space. Rockets. 2005. V. 42. N 4. Р. 740-748. doi 10.2514/1.6694
  4. Ferguson D.C., Katz I. // IEEE Trans. Plasma Sci. 2015. V. 43. N 9. P. 3021-3026
  5. Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С., Коровин С.Б. // Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., 2015. N 1. С. 88-93; Khasanshin R.H., Novikov L.S., Korovin S.B. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron and Neutron Tech. 2015. V. 9. N 1. P. 81-86. doi 10.1134/s1027451015010115
  6. Gedeon O., Zemek J., Jurek K. // J. Non-Crystalline Solids. 2007. V. 354. N 12-13. P. 1169-1171. doi 10.1016/j.jnoncrysol.2006.12.125
  7. Meyza X., Goeuriot D., Guerret-Pi.court C., Tr.heux D., Fitting H.-J. // J. Appl. Phys. 2003. V. 94. N 8. P. 5384-5392. doi 10.1063/1.1613807
  8. Khasanshin R.H., Novikov L.S. // Advances in Space Res. 2016. V. 57. P. 2187-2195
  9. Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С., Коровин С.Б. // Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2017. N 9. С. 28-34. doi 10.7868/S0207352817090049; Khasanshin R.H., Novikov L.S., Korovin S.B. // Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron and Neutron Tech. 2017. V. 11. N 5. P. 917-923. doi 10.1134/S102745101705007X
  10. Брунов В.С., Подсвиров О.А., Сидоров А.И., Чураев Д.В. // ЖТФ. 2014. Т. 84. В. 8. С. 112-117; Brunov V.S., Podsvirov O.A., Sidorov I. et al. Tech. Phys. 2014. V. 59. N 8. P. 1215-1219. doi 10.1134/S1063784214080088
  11. Брунов В.С., Подсвиров О.А., Сидоров А.И., Просников М.А. // ЖТФ. 2014. Т. 84. В. 12. С. 126-131; Brunov V.S., Podsvirov O.A., Sidorov A.I., Prosnikov M.A. Tech. Phys. 2014. V. 59. N 12. P. 1863-1868. doi 10.1134/S1063784214120032
  12. Крылов П.Н., Закирова Р.М., Федотова И.В. // ФТП. 2013. Т. 47. В. 10. С. 1421-1424; Krylov P.N., Zakirova R.M., Fedotova I.V. // Semiconductors. 2013. V. 47. N 10. P. 1412-1415. doi 10.1134/S1063782613100175
  13. Амосова Л.П., Исаев М.В. // ЖТФ. 2014. Т. 84. В. 10. С. 127-132; Amosova L.P., Isaev M.V. // Tech. Phys. 2014. V. 59. P. 1545-1549. doi 10.1134/S1063784214100053
  14. Morgan D.V., Salehi A., Aliyu Y.H., Bunce R.W., Diskett D. // Thin Solid Films. 1995. V. 258. N 1-2. P. 283-285. doi 10.1016/0040-6090(94)06420-2
  15. Garrett H.B., Spitale G.S. // J. Spacecraft and Rockets. 1985. V. 22. N 3. P. 231-244
  16. Свечкин В.П., Савельев А.А., Соколова С.П., Бороздина О.В. // Космическая техника и технологии. 2017. N 2. В. 17. С. 99-107
  17. Kudlinski A., Quiquempois Y., Martinelli G. // Opt. Expr. 2005. V. 13. N 20. P. 8015-8024
  18. Doremus R.H. // Appl. Phys. Letter. 2005. V. 87. N 23. P. 232904-2. doi 10.1063/1.2140090
  19. Skuja L., Kajihara K., Hirano M., Saitoh A., Hosono H. // J. Non-Cryst. Sol. 2006. V. 352. P. 2297-2302. doi 10.1016/j.jnoncrysol.2006.01.101
  20. Skuja L., Kajihara K, Hirano M., Hosono H. // Nuclear Instr. and Meth. in Phys. Res. B. 2008. V. 266. P. 2971-2975. doi 10.1016/j.nimb.2008.03.150
  21. Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С. // Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2018. N 11. С. 48-58. doi 10.1134/S0207352818110136; Khasanshin R.H., Novikov L.S. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron and Neutron Tech. 2018. V. 12. N 6. P. 1088-1098. doi 10.1134/S1027451018050452
  22. Ollier N., Boizot B., Reynard B., Ghaleb D., Petite G. // J. Nucl. Mater. 2005. V. 340. N 2-3. P. 209-213. doi 10.1016/j.jnucmat.2004.11.011
  23. Zhang G.F., Wang T.S., Yang K.J., Chen L., Zhang L.M., Peng H.B., Yuan W., Tian F. // Nucl. Instr. Meth. B. 2013. V. 316. P. 218-221. doi 10.1016/j.nimb.2013.09.020
  24. Abbas A., Serruys Y., Ghaleb D., Delaye J.M. // Nucl. Instr. Meth. B. 2000. V. 166. P. 445-450. doi 10.1016/S0168-583X(99)00695-3

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.