"Оптика и спектроскопия"
Издателям
Вышедшие номера
Безаберрационная ширина углового спектра зондирующего слоистый объект поля в конфокальной микроскопии
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19090170
Российский научный фонд, 16-19-10528
Лякин Д.В. 1, Максимова Л.А. 1, Рябухо В.П. 1,2
1Институт проблем точной механики и управления РАН, Саратов, Россия
2Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: LDV-77@mail.ru, MaksimovaLA@yandex.ru, rvp-optics@yandex.ru
Выставление онлайн: 20 августа 2019 г.

Теоретически и экспериментально исследован эффект влияния числовой апертуры зондирующего объект пучка света на измеряемую с помощью конфокального интерференционного микроскопа величину при определении толщины слоистого объекта, для случая существенного влияния на сигнал сферической аберрации, возникающей в зондирующем объект пучке при его прохождении через объект. Получена зависимость измеряемой величины от числовой апертуры с учетом влияния на сигнал сферической аберрации. Установлен критерий "безаберрационного" распространения зондирующего объект пучка и определено условие, при котором влиянием сферической аберрации на сигнал конфокального микроскопа можно пренебречь. Получено приближенное аналитическое выражение, позволяющее с учетом эмпирического корректирующего фактора определить безаберрационную" ширину углового спектра зондирующего объект пучка света. Определены границы применимости аналитической зависимости измеряемой величины от числовой апертуры, которая получена ранее для случая пренебрежимо малого влияния сферической аберрации на сигнал конфокального микроскопа. Ключевые слова: конфокальная микроскопия, интерференционный микроскоп, сферическая аберрация, декорреляция, слоистый объект -18
  • Confocal Microscopy / Ed. by Wilson T. San Diego: Academic Press, 1990. 426 p
  • Handbook of Biological Confocal Microscopy / Ed. by Pawley J.E. 3rd ed. Berlin: Springer, 2006. 985 p
  • Prasad V., Semwogerere D., Weeks E.R. // J. Phys. Cond. Matter. 2007. V. 19. P. 113102. doi 10.1088/0953-8984/19/11/113102
  • Hovis D.B., Heuer A.H. // J. Microsc. 2010. V. 240. N 3. P. 173. doi 10.1111/j.1365-2818.2010.03399.x
  • Shah S.M., Crawshaw J.P., Boek E.S. // J. Microsc. 2017. V. 265. N 2. P. 261. doi 10.1111/jmi.12496
  • Optical Inspection of Microsystems / Ed. by Osten W. NY.: SRC Press Taylor \& Francis Group, 2007. 503 p
  • Reyes D.R., Halter M., Hwang J. // J. Microsc. 2015. V. 259. N 1. P. 26. doi 10.1111/jmi.12245
  • Corle T.R., Fanton J.T., Kino G.S. // Appl. Opt. 1987. V. 26. N 12. P. 2416. doi 10.1364/AO.26.002416
  • Sheppard C.J.R., Connolly T.J., Lee J., Cogswell C.J. // Appl. Opt. 1994. V. 33. N 4. P. 631. doi 10.1364/AO.33.000631
  • Saloma C., Matsuoka K., Kawata S. // Rev. Sci. Instrum. 1996. N 67. P. 2072. doi 10.1063/1.1147017
  • Cox G., Sheppard C.J.R. // Micron. 2001. V. 32. P. 701. doi 10.1016/S0968-4328(01)00017-8
  • Ilev I.K., Waynant R.W., Byrnes K.R., Anders J.J. // Opt. Lett. 2002. V. 27. N 19. P. 1693. doi 10.1364/OL.27.001693
  • Kuypers L.C., Decraemer W.F., Dirckx J.J.J., Timmermans J.-P. // J. Microsc. 2005. V. 218. N 1. P. 68. doi 10.1111/j.1365-2818.2005.01457.x
  • Wilson T. // J. Microsc. 2011. V. 244. N 2. P. 113. doi 10.1111/j.1365-2818.2011.03549.x
  • Sheppard C.J.R., Gu M. // Appl. Opt. 1992. V. 31. N 14. P. 2541. doi 10.1364/AO.31.002541
  • Hell S., Reiner G., Cremer C., Stelzer E. // J. Microsc. 1993. V. 169. N 3. P. 391. doi 10.1111/j.1365-2818.1993.tb03315.x
  • Sheppard C.J.R., Gu M., Brain K., Zhou H. // Appl. Opt. 1994. V. 33. N 4. P. 616. doi 10.1364/AO.33.000616
  • Wiersma S., Visser T., Torok P. // Pure Appl. Opt. 1998. V. 7. P. 1237. doi 10.1088/0963-9659/7/5/029
  • Izatt J.A., Hee M.R., Owen G.M., Swanson E.A., Fujimoto J.G. // Opt. Lett. 1994. V. 19. N 8. P. 590. doi 10.1364/OL.19.000590
  • Dubois A., Moneron G., Boccara C. // Opt. Commun. 2006. V. 266. N 2. P. 738. doi 10.1016/j.optcom.2006.05.016
  • Sheppard C.J.R., Roy M., Sharma M.D. // Appl. Opt. 2004. V. 43. N 7. P. 1493. doi 10.1364/AO.43.001493
  • Optical Coherence Tomography. Technology and Applications / Ed. by Drexler W., Fujimoto J.G. Berlin: Springer, 2008. 1326 p
  • De Groot P., Colonna de Lega X., Kramer J., Turzhitsky M. // Appl. Opt. 2004. V. 43. N 25. P. 4821. doi 10.1364/AO.43.004821
  • Abdulhalim I. // Ann. Phys. 2012. V. 524. N 12. P. 787. doi 10.1002/andp.201200106
  • Gao W. // J. Mod. Opt. 2015. V. 62. N 21. P. 1764. doi 10.1080/09500340.2014.952689
  • Labiau S., David G., Gigan S., Boccara A.C. // Opt. Lett. 2009. V. 34. N 10. P. 1576. doi 10.1364/OL.34.001576
  • Grebenyuk A.A., Ryabukho V.P. // Opt. Lett. 2012. V. 37. N 13. P. 2529. doi 10.1364/OL.37.002529
  • Лякин Д.В., Рябухо В.П. // Квант. электрон. 2013. Т. 43. В. 10. С. 949; Lyakin D.V., Ryabukho V.P. // Quantum Electron. 2013. V. 43. N 10. P. 949. doi 10.1070/QE2013v043n10ABEH015187
  • Safrani A., Abdulhalim I. // Appl. Opt. 2011. V. 50. N 18. P. 3021. doi 10.1364/AO.50.003021
  • Tearney G.J., Brezinski M.E., Southern J.F., Bouma B.E., Hee M.R., Fujimoto J.G. // Opt. Lett. 1995. V. 20. N 21. P. 2258. doi 10.1364/OL.20.002258
  • Watanabe Y., Yamaguchi I. // Appl. Opt. 2002. V. 41. N 13. P. 2414. doi 10.1364/AO.41.002414
  • Diaspro A., Federici F., Robello M. // Appl. Opt. 2002. V. 41. N 4. P. 685. doi 10.1364/AO.41.000685
  • Visser T., Oud J., Brakenhoff G. // Optik. 1992. V. 90. N 1. P. 17
  • Лякин Д.В., Максимова Л.А., Сдобнов А.Ю., Рябухо В.П. // Опт. и спектр. 2017. Т. 123. N 3. С. 463; Lyakin D.V., Maksimova L.A., Sdobnov A.Yu., Ryabukho V.P. // Opt. Spectrosc. 2017. V. 123. N 3. P. 487. doi 10.1134/S0030400X17090235
  • Wiersma S., Torok P., Visser T., Varga P. // J. Opt. Soc. Am. A. 1997. V. 14. N 7. P. 1482. doi 10.1364/JOSAA.14.001482
  • Рябухо В.П., Хомутов В.Л., Лякин Д.В., Константинов К.В. // Письма в ЖТФ. 1998. Т. 24. N 4. С. 19; Ryabukho V.P., Khomutov V.L., Lyakin D.V., Konstantinov K.V. // Technical Physics Letters. 1998. V. 24. N 2. P. 132. doi 10.1134/1.1262023
  • Heil J., Heuck H.M., Muller W., Netsch M., Wesner J. // Appl. Opt. 2012. V. 51. I. 15. P. 3059. doi 10.1364/AO.51.003059
  • Srivastava V., Nandy S., Mehta D.S. // Appl. Phys. Lett. 2013. V. 103 I. 10. P. 103702. doi 10.1063/1.4820350
  • Zhou R., Jin D., Hosseini P., Singh V.R., Kim Y.-H., Kuang C., Dasari R.R., Yaqoob Z., So P.T.C. // Opt. Express. 2017. V. 25. N 1. P. 130. doi 10.1364/OE.25.000130
  • Singla N., Srivastava V., Mehta D.S. // J. Biophotonics. 2018. V. 11. N 5. P. e201700279. doi 10.1002/jbio.201700279
  • Электронный ресурс. Режим доступа: https://refractiveindex.info/?shelf=glass\&book=SCHOTT- multipurpose\&page=D263TECO
  • De Groot P., Colonna de Lega X. // Opt. Lett. 2007. V. 32. N 12. P. 1638. doi 10.1364/OL.32.001638
  • Ryabukho V.P., Lyakin D.V., Grebenyuk A.A., Klykov S.S. // J. Opt. 2013. V. 15. N 2. P. 025405. doi 10.1088/2040-8978/15/2/025405
  • Рябухо В.П., Лычагов В.В., Лякин Д.В., Смирнов И.В. // Опт. и спектр. 2011. Т. 110. N 5. С. 854; Ryabukho V.P., Lychagov V.V., Lyakin D.V., Smirnov I.V. // Opt. Spectrosc. 2010. V. 110. N 5. P. 802. doi 10.1134/S0030400X11050134
  • Korn G.A., Korn T.M. Mathematical handbook for scientists and engineers: definitions, theorems, and formulas for reference and review. New York: McGraw-Hill, 1968. 1150 p.; Корн Г., Корн Т. Справочник по математике (для научных работников и инженеров). М.: Наука, 1973. 832 с.
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.