Вышедшие номера
Фотоэлектрические свойства композитных слоев Si с наночастицами Ag, полученных ионной имплантацией и лазерным отжигом
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19020061
Баталов Р.И.1, Нуждин В.И.1, Валеев В.Ф.1, Нургазизов Н.И.1, Бухараев А.А.1, Ивлев Г.Д.2, Степанов А.Л.1
1Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского, ФИЦ Казанский научный центр РАН, Казань, Россия
2Белорусский государственный университет, Минск, Республика Беларусь
Email: ivlev-1947@mail.ru
Выставление онлайн: 20 января 2019 г.

Исследованы структурные и фотоэлектрические свойства композитных слоев Ag : Si, сформированных в приповерхностной области монокристаллической подложки c-Si высокодозной имплантацией ионов Ag+ с последующим импульсным лазерным отжигом (ИЛО). Установлено, что в результате ионной имплантации максимальная концентрация примеси Ag (NAg~4·1022 at/cm3) сосредоточена вблизи поверхности и падает до уровня ~1019 at/cm3 на глубине ~60 nm. При этом в сформированном тонком слое аморфизованного Si (a-Si) содержались наночастицы Ag и включения оксида серебра (Ag2O). В условиях ИЛО достигается плавление приповерхностной области и диффузионное перераспределение имплантированной примеси, что приводит к повышенной концентрации Ag вблизи поверхности и на глубине 60 nm. Темновые вольт-амперные характеристики перехода между слоем Ag : Si и подложкой p-Si показали формирование диодной структуры в результате ИЛО. Измерения фотопроводимости на сформированных образцах демонстрируют наличие фотоотклика (фото-ЭДС) в области длин волн 500-1200 nm, интенсивность которого повышалась для образцов, подвергнутых ИЛО при увеличении плотности энергии в импульсе. Полученные результаты демонстрируют потенциальную возможность применения композитных слоев Ag : Si и метода их формирования в технологии фотоприемных устройств. -18