"Оптика и спектроскопия"
Издателям
Вышедшие номера
Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом
Переводная версия: 10.1134/S0030400X18100247
Национальная академия наук Беларуси, Министерство образования, Министерство промышленности , Государственный военнопромышленный комитет, Фотоника, опто- и микроэлетроника, № 20161336
Стаськов Н.И. 1, Сотский А.Б. 1, Сотская Л.И. 2, Ивашкевич И.В. 1, Кулак А.И. 3, Гапоненко Н.В. 4,5, Руденко М.В.4, Петлицкий А.Н. 6
1Могилевский государственный университет имени А.А. Кулешова, Могилев, Беларусь
2Белорусско-Российский университет, Могилев, Беларусь
3Институт общей и неорганической химии НАН Беларуси, Минск, Беларусь
4Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск, Беларусь
5Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", Москва, Россия
6НТЦ БМС "Интеграл", Минск, Беларусь
Email: ni_staskov@mail.ru, ab_sotsky@mail.ru, li_sotskaya@tut.by, iivashkevich@yandex.ru
Выставление онлайн: 19 сентября 2018 г.

По данным многоугловой спектрофотометрии и спектроэллипсометрии в УФ и видимой областях рассчитаны спектры показателей преломления, поглощения и ширины запрещенной зоны однослойной и пятислойных пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом. Послойное осаждение золя на кварцевые подложки от одного до пяти слоев приводит к увеличению пористости пленок от 4 до 33%. Это вызывает уменьшение показателей преломления в средней части видимого спектра от 2.33 до 1.87, приводящее к уменьшению отражательной способности и увеличению пропускательной способности или "прозрачности" пятислойных пленок. При увеличении температуры прогрева таких пленок от 500 до 750oС максимум полосы поглощения смещается от 239 к 253 nm, а оптическая ширина запрещенной зоны уменьшается от 4.63 до 4.20 eV. Максимум полосы поглощения однослойной пленки приходится на длину волны 252 nm, а ее оптическая ширина запрещенной зоны 3.96 eV. -18
  • Brebner J.L., Jandl S., Lepine Y. // Phys. Rev. B. 1981. V. 23. P. 3816
  • Pontes F.M., Lee E.J.H., Leite E.R.., Longo E., Varela J.A. // J. Mat. Science. 2000. V. 35. P. 4783
  • Amy F., Wan A., Kahn A., Walker F.J., McKee R.A. // J. Appl. Phys. 2004. V. 96. N 3. Р. 1601
  • Sakyo Hirose, Akinori Nakayama, Hideaki Niimi, Keisuke Kageyama, Hiroshi Takagi // J. Appl. Phys. 2008. V. 104. P. 053712. doi 10.1063/1.2975316
  • Tarun M.C., Selim F.A., McCluskey M.D. // Phys. Rev. Lett. 2013. V. 111. P. 187403
  • Сохраби Анараки Х., Гапоненко Н.В., Литвинов В.Г., Ермачихин А.В., Колос В.В., Петлицкий А.Н., Иванов В.А. // ФТТ. 2015. Т. 57. N 10. С. 1977
  • Gaponenko N.V., Kortov V.S., Rudenko M.V., Pustovarov V.A., Zvonarev S.V., Slesarev A.I., Molchan I.S., Thompson G.E., Khoroshko L.S., Prislopskii S.Ya. // J. Appl. Phys. 2012. V. 111. P. 103101
  • Podhorodecki A., Gaponenko N.V., Banski M., Rudenko M.V., Khoroshko L.S., Sieradzki A., Misiewicz J. // Opt. Mater. 2012. V. 34. N 9. P. 1570
  • Singha S.B., Sharma H.B. // Eur. Phys. J. Appl. Phys. 2009. V. 45. P. 30602
  • Hiibert T., Beck U., Kleinke H. // J. Non-Cryst. Solids. 1996. V. 196. P. 150
  • Fuentes S., Zarate R.A., Chavez E., Munoz P.,Di az-Droguett D., Leyton P. // J. Mater. Sci. 2010. V. 45. P. 1448
  • Reji T., Dube D.C., Kamalasanan M.N., Subhas Chandra, Bhalla A.S. // J. Appl. Phys. 1997. V. 82. P. 4484
  • Reji T., Dube D.C. // Jpn. J. Appl. Phys. 2000. V. 39. P. 1771
  • Kamalasanan M.N., Deepak Kumar N., Subhas Chandra // J. Appl. Phys. 1993. V. 74. P. 679
  • Dinghua Bao, Xi Yao, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani // Appl. Phys. Lett. 2001. V. 79. P. 3767
  • Kosola A., Putkonen M., Johansson L.-S., Niinisto L. // Appl. Surf. Sci. 2003. V. 211. P. 102
  • Кулак А.И., Сохраби Анараки Х., Гапоненко Н.В., Хорошко Л.С., Холов П.А., Райченок Т.Ф. // ЖПС. 2017. Т. 84. N 1. С. 150
  • Du Y., Zhang M.-S., Wu J., Kang L., Yang S., Wu P., Yin Z. // Appl. Phys. A. 2003. V. 76. P. 1105
  • Roy D., Peng C.J., Krupanidhi S.B. // Appl. Phys. Lett. 1992. V. 60. N 3. Р. 2478
  • Baba S., Numata K., Miyake S. // Sci. Technol. Adv. Mater. 2000. V. 1. P. 211
  • Уханов Ю.И. Оптические свойства полупроводников. М.: Наука, 1977. 368 с
  • Kim Y.H., Lee K.S., Lee T.S., Cheong B., Seong T.-Y., Kim W.M. // Appl. Surf. Science. 2009. V. 255. P. 7251
  • Lee S.H., Lee T.S., Lee K.S., Cheong B., Kim Y.D., Kim W.M. // J. Phys. D. 2008. V. 41. P. 095303
  • Новодворский О.А., Горбатенко Л.С., Панченко В.Я. // ФТП. 2009. Т. 43. N 4. С. 439
  • Edward D. Palik. Handbook of optical constants of solids. Academic Press, 1988. P. 230
  • Li Q.H., Zhu D., Liu W., Liu Y., Ma X.C. // Appl. Surf. Science. 2008. V. 254. P. 2922
  • Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970. 856 с
  • Tauc J., Grigorovici R., Vancu A. // Phys. Stat. Sol. 1966. V. 15. P. 627
  • Сотский А.Б., Кривецкий К.Н., Федотко А.А., Дзен И.С., Парашков С.О., Стаськов Н.И., Сотская Л.И. // Материалы Всероссийской научной Интернет-конференции с международным участием "Спектрометрические методы анализа". Казань, 26 сентября 2013. С. 103
  • Minkov D. // JOSA. A. 1991. V. 8. N 2. P. 306
  • Eunice S.M. Goh, Chen T.P., Sun C.Q., Liu Y.C. // J. Appl. Phys. 2010. V. 107. P. 024305
  • Головань Л.А., Тимошенко В.Ю., Кашкаров П.К. // УФН. 2007. Т. 177. N 6. C. 619
  • Stefan Zollner, Demkov A.A., Liu R., Fejes P.L., Gregory R.B., Prasad Alluri, Curless J.A., Yu Z., Ramdani J., Droopad R., Tiwald T.E., Hilfiker J.N., John A. Woollam // J. Vac. Sci. Technol. B. 2000. V. 18. N 4. P. 2242
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.