"Оптика и спектроскопия"
Издателям
Вышедшие номера
Влияние лигандов и растворителя на безызлучательные переходы в полупроводниковых квантовых точках (Обзор)
Ермолаев В.Л.1
1Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: ermolaev@oi.ifmo.ru
Выставление онлайн: 20 июля 2018 г.

Собраны данные о квантовых выходах и временах затухания фотолюминесценции (PL) квантовых точек. Проведено сопоставление фотопроцессов, осуществляющихся в квантовых точках, с фотопроцессами, происходящими в сложных органических молекулах в конденсированной фазе. Обзор состоит из введения, трех частей и выводов. Первые две части посвящены квантовым точкам, построенным из непрямозонных полупроводников. Первая часть посвящена данным о выходах и временах затухания PL углеродных квантовых точек, а в табл. 1 приведены выборочные значения и даны краткие комментарии к этим данным. В табл. 2 той же части собраны данные о процессах быстрой релаксации в тех же объектах. Во второй части табл. 3 и 4 и последующий текст содержат аналогичную информацию о кремниевых квантовых точках. Данные о фотопроцессах в квантовых точках, построенных из прямозонных полупроводников, собраны в третьей части. Данные о выходах PL, временах затухания и процессах релаксации собраны в табл. 5 и 6. Особое внимание в обзоре уделено влиянию изменения частоты колебаний в окружении квантовой точки на выходы PL и скорости процессов релаксации между электронными уровнями внутри зон, что указывает на применимость индуктивно-резонансного механизма безызлучательных переходов к этим системам. -18
  • Гапоненко С.В., Розанов Н.Н., Ивченко Е.Л., Федоров А.В., Баранов А.В., Бонч-Бруевич А.М., Вартанян Т.А., Пржибельский С.Г. Оптика наноструктур. / Под ред. Федорова А.В. СПб.: Недра, 2005. 326 с
  • Jing L., Kershaw St.V., Li Y., Huang X., Li Y., Rogach A.L., Gao M. // Chem. Rev. 2016. V. 116. P. 10623--10730
  • Harris R.D., Homan S.B., Kodaimati M., He Ch., Nepomnyashchii A.B., Swenson N.K., Lian Sh., Calzada L., Weiss E.A. // Chem. Rev. 2016. V. 116. P. 12865--12919
  • Kilina S.V., Tamukong P.K., Kilin D.S. // Accounts Chem. Research. 2016. V. 49. P. 2127--2135
  • Pietryga I.M., Park J-Sh., Lim J., Fidler A.F., Bae W.K., Brovelli S., Klimov V.I. // Chem. Rev. 2016. V. 116. P. 10513--10622.
  • Zhu Sh., Song Y., Zhao X., Shao J., Zhang J., Yang B. // Nano Research. 2016. V. 8. P. 355--381
  • Lim S.Y., Shen W., Gao Z. // Chem. Soc. Rev. 2015. V. 44. P. 362--381
  • Ищенко А.А., Фетисов Г.В., Асланов Л.А. Нанокремний: свойства, получение, применение, методы исследования и контроля. М.: Физматлит, 2012. 648 с
  • Ischenko A.A., Fetisov G.V., Aslanov L.A. Nanosilicon: Properties, Synthesis, Applications, Methods of Analysis and Control. N.Y.: CRC Press. Teylar \& Francis Group, London: Boca Raton, 2015. 755 p
  • Forster Th. // Annalen der Physik. 1948. Bd. 437. S. 55--75
  • Forster Th. // Discus. Faraday Soc. 1959. N 27. P. 7--17
  • Свешникова Е.Б., Ермолаев В.Л. // Опт. и спектр. 1971. Т. 30. С. 379--380
  • Forster Th. // Chem. Phys. Lett. 1971. V. 12. P. 422--424
  • Ermolaev V.L., Sveshnikova E.B. // Chem. Phys. Lett. 1973. V. 23. P. 349--354
  • Бодунов Е.Н., Свешникова Е.Б. // Опт. и спектр. 1974. Т. 36. С. 340--346
  • Bodunov E.N. // Opt. Spectrosc. 1976. V. 40. P. 537--538
  • Ермолаев В.Л., Бодунов Е.Н., Свешникова Е.Б., Шахвердов Т.А. Безызлучательный перенос энергии электронного возбуждения. Л.: Наука, 1977. Гл. 8
  • Ermolaev V.L., Sveshnikova E.B. // J. Luminesc. 1979. V. 20. P. 387--395
  • Ермолаев В.Л., Свешникова Е.Б., Бодунов Е.Н. // Усп. физ. наук. 1996. Т. 166. С. 279--302; Ermolaev V.L., Sveshnikova E.B., Bodunov E.N. // Phys.-Usp. 1996. V. 39. P. 261--282. An erratum for this article has been published in Phys.-Usp. 1997. V. 40. P. 335
  • Свешникова Е.Б., Ермолаев В.Л. // Опт. и спектр. 2011. Т. 111. С. 38--54; Sveshnikova E.B., Ermolaev V.L. // Opt. Spectrosc. 2011. V. 111. P. 34--50
  • Vavilov S.I. // Phil. Mag. 1922. V. 43. P. 307--320
  • Kasha M. // Discus. Farad. Soc. 1950. V. 9. P. 14--19
  • Takeoka Sh., Fujii M., Hayashi Sh. // Phys. Rev. B. 2000. V. 62. P. 16820--16825
  • Deng Y., Zhuo D., Chen X., Wang F., Song H., Shen D. // Chem. Commun. 2013. V. 49. P. 5751--5753
  • Li Q., Zhou M., Yang Q., Wu Q., Shi J., Gong A., Yand M. // Chemistry of Mater. 2016. V. 28. N 22. P. 8221--8227
  • Tan J., Zou R., Zhang J., Li W., Zhang L., Yue D. // Nanoscales. 2016. V. 8. P. 4742--4747
  • Sun Y.-P., Zhou B., Lin Y., Wang W., Shiral Fernando K.A., Pathak P., Meziane M.J., Harruff B.A., Wang X., Wang H., Luo P.G., Yang H., Kose M.E., Chen B., Veca L.M., Xie S.-Y. // J. Amer. Chem. Soc. 2006. V. 128. P. 7756--7757.
  • Теренин А.Н. Фотоника молекул красителей и родственных органических соединений. Л.: Наука, 1967. 616 с
  • Турро Н. Молекулярная фотохимия. М.: Мир, 1967. 328 с.; Turro N.J. // Molecular Photochemistry. N.Y., Amsterdam: W.A. Benjamin. Inc., 1965
  • Калверт Дж., Питтс Дж. Фотохимия. М.: Мир, 671 с.; Calvert J.G., Pitts J.N. Photochemistry. N.Y., London, Sydney: J. Wiley \& Sons, 1966
  • Мак-Глинн С., Адзуми Т., Киносита М. Молекулярная спектроскопия триплетного состояния. М.: Мир, 1972. 448 с.; McGlynn S.P., Azumi T., Kinoshita M. Molecular Spectroscopy of the Triplet State. New Jersey: Prentice-Hall, Inc., 1969
  • Zhao L., Yu X., Zhang S., He X., Li L., Jia M., Chang M., Pan H., Chen J., Wang W., Xu J. // RSC Advanced. 2017. V. 7. P. 22684--22691
  • Anilkumar P., Wang X., Cao L., Sahu S., Liu J.-H., Wang P., Korch K., Tackett II K.N., Parenzan A., Sun Y.-P. // Nanoscale. 2011. V. 3. P. 2023--2027
  • Cao L., Yang Sh.-T., Wang X., Luo P.G., Liu J.-H., Sahu S., Liu Y., Sun Y.-P. // Theranostics. 2012. V. 2. P. 295--301
  • Yang Y., Cui J., Zheng M., Hu C., Tan S., Xiao Y., Yang Q., Liu Y. // Chem. Commun. 2012. V. 48. P. 380--382
  • Sahu S., Behera B., Maiti T.K., Mohapatra S. // Chem. Commun. 2012. V. 48. P. 8835--8837
  • Liang Q., Ma W., Shi Y., Li Z., Yang X. // Carbon. 2013. V. 60. P. 421--428
  • Li X., Zhang Sh., Kulinich S.A., Lu Y., Zang H. // Scientific Reports. 2014. V. 4. P. 4976
  • Li F., Liu Ch., Yang J., Wang Z., Liu W., Tian F. // RSC Advances. 2014. V. 4. P. 3201--3205
  • Feng X.Т., Zhang F., Wang Y.L., Zhang Y., Yang Y.Z., Liu X.G. // Appl. Phys. Lett. 2015. V. 107. P. 213102
  • Nguyen V., Yan L., Si J., Hou X. // Optical Materials Express. 2016. V. 6. P. 312--320
  • Sun Sh., Zhang L., Jiang K., Wu A., Lin H. // Chem. Mater. 2016. V. 28. P. 8659--8668
  • Jiang Z.C., Lin T.N., Lin H.T., Talite M.J., Tzeng T.T., Hsu1 C.L., Chiu K.P., Lin C.A.J., Shen J.L., Yuan C.T. // Scientific Reports. 2016. V. 6. P. 19991
  • Kim T.H., White A.R., Sirdaarta J.P., Ji W., Cock I.E., John J.St., Boyd S.E., Brown Ch.L., Li Q. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2016. V. 8. P. 33102--33111
  • Ogi T., Iwasaki H., Aishima K., Iskandar F., Wang W.-N., Takimiya K., Okuyama K. // RSC Advances. 2014. V. 4. P. 55709--55715
  • Ogi T., Aishima K., Permatasari F.A., Iskandar F., Tanabe E., Okuyama K. // New J. Chem. 2016. V. 40. P. 5555--5561
  • Wang L., Yin Y., Jain A., Zhou S. // Langmuir. 2014. V. 30. P. 14270--14275
  • Sk M.R., Chattopadhyay A. // RSC Advances. 2014. V. 4. P. 31994--31999
  • Zhu S., Meng Q., Wang L., Zhang J., Song Y., Jin H., Zhang K., Sun H., Wang H., Yang B. // Angew. Chem. Int. Ed. 2013. V. 52. P. 3953--3957
  • Wang F., Chen Y.-H., Lin Ch.-Y., Ma D.-G. // Chem. Commun. 2011. V. 47. P. 3502--3504
  • Fan Y., Guo X., Zhang Y., Lv Y., Zhao J., Liu X. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2016. V. 8. P. 31863--31870
  • Li H., Shao F.-Q., Zou S.-Y., Yang Q.-J., Huang H., Feng J.-J., Wang A.-J. // Microchimica Acta. 2016. V. 183. P. 821--826
  • Li J., Jiao Y., Feng L., Zhong Y., Zuo G., Xie A., Dong W. // Microchim. Acta. 2017. V. 184. P. 2933--2940
  • Parvin N., Mandal T.K. // Microchimica Acta. 2017. V. 184. P. 1117--1125
  • Schneider J., Reckmeier C.J., Xiong Y., Von Seckendorff M., Sucha A.S., Kasak P., Rogach A.L. // J. Phys. Chem. C. 2017. V. 121. P. 2014--2022
  • Dong Y., Pang H., Yang H.B., Guo C., Shao J., Chi Y., Li C.M., Yu T. // Angew. Chem. Int. Ed. 2013. V. 52. P. 7800--7804.
  • Kalytchuk S., Polakova K., Wang Y., Froning J.P., Cepe K., Rogach A.L. // ACS Nano. 2017. V. 11. P. 1432--1442
  • Yang M., Meng X., Li B., Ge Sh., Lu Y. // J. Nanoparticle Research. 2017. V. 19. P. 217--229
  • Xu Q., Pu P., Zhao J., Dong Ch., Gao Ch., Chen Y., Chen J., Liu Y., Zhou H.J. // Mater. Chem. A. 2015. V. 3. P. 542--546
  • Ding H., Yu S.-B., Wei J.-S., Xiong H.-M. // ACS Nano. 2016. V. 10. P. 484--491
  • Yuan F., Wang Z., Li X., Li Y., Tan Z., Fan L., Yang S. // Advanced Materials. 2017. V. 29. P. 1604436-1-6
  • Wang W., Wang B., Embrechts H., Damm C., Cadranel A., Strauss V., Distaso M., Hinterberger V., Guldi D.M., Peukert W. // RSC Advances. 2017. V. 7. P. 24771--24780
  • Mueller M.L., Yan X., McGuire J.A., Li L.-S. // Nano Lett. 2010. V. 10. P. 2679--2682
  • Yang P., Zhou L., Zhang Sh., Wan N., Pan W., Shen W. // J. Appl. Phys. 2014. V. 116. P. 244306
  • Deng X., Sun J., Yang S., Shen H., Zhou W., Lu J., Ding G., Wang Z. // Appl. Phys. Lett. 2015. V. 107. P. 241905
  • Wang Z., Yuan F., Li X., Li Y., Zhang H., Fan L., Yang Sh. // Advanced Materials. 2017. V. 27. P. 1702910
  • Zhao L., Yu X., Zhang S., He X., Li L., Jia M., Chang M., Pan H., Chen J., Wang W., Xu J. // RSC Advance. 2017. V. 7. P. 22684--22691
  • Tao S., Song Y., Zhu Sh., Shao J., Yang B. // Polymer. 2017. V. 116. P. 472--478
  • Ermolaev V.L., Lubimtsev V.A. // Acta Phys. Polon. 1987. V. A71. P. 731--741
  • Ермолаев В.Л. // Успехи химии. 2001. Т. 70. N 6. С. 539; Ermolaev V.L. // Russ. Chem. Rev. 2001. V. 70. N 6. P. 471--490.
  • Nvemec P., Precli kova J., Kromka A., Rezek B., Trojanek F., Maly P. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 93. P. 083102
  • Sui L., Jin W., Li S., Liu D., Jiang Y., Chen A., Liu H., Shi Y., Ding D., Jin M. // PhysChemChemPhys. 2016. V. 18. P. 3838--3845
  • Wang W., Wang B., Embrechts H., Damm C., Cadranel A., Strauss V., Distaso M., Hinterberger V., Guldi D.M., Peukert W. // RSC Advances. 2017. V. 7. P. 24771--24780
  • Wang L. Zhu Sh.-J., Wang H.-Y., Wang Y.-F., Hao Y.-W., Zhang J.-H., Chen Q.-D., Zhang Y.-L., Han W., Yang B., Sun H.-B. // Advanced Opt. Mater. 2013. V. 1. P. 264--271
  • Zhang Q., Luo Y. // High Power Laser Science and Engineering. 2016. V. 4. P. 1--10
  • Caham L.T. // Appl. Phys. Lett. 1990. V. 57. P. 1046--1048
  • Wilson W.L., Szajowski P.F., Brus L.E. // Science. 1993. V. 262. P. 1242--1244
  • Littau K.A., Szajowwski P.F., Muller A.J., Kortan A.R., Brus L.E. // J. Phys. Chem. 1993. V. 97. P. 1224--1230
  • Mazzaro R., Romano F., Ceroni P. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2017. V. 19. P. 26507--26526
  • Ledoux L., Gong J., Huisken F., Guillois O., Reynaud C. // Appl. Phys. Lett. 2002. V. 80. P. 4834--4836
  • Valenta J., Juhasz R., Linnros J. // J. Luminesc. 2002. V. 98. P. 15--22
  • Jurbergs D., Rogojina E., Mangolini L., Kortshagen U. // Appl. Phys. Lett. 2006. V. 88. P. 233116-1-3
  • Mangolini L., Jurbergs D., Rogojina E., Korthagen U. // J. Luminesc. 2006. V. 121. P. 327--334
  • Walters R.J., Kalkman J., Polman A., Atwater H.A., deDood M.J.A. // Phys. Rev. B. 2006. V. 73. P. 132302-1-4.
  • Pi X.D., Liptak R.W., Nowak J.D., Wells N.P., Carter C.B., Campbell S.A., Kortshagen U. // Nanothechnology. 2008. V. 19. P. 245603-1-5
  • Anthony R., Kortshagen U. // Phys. Rev. B. 2009. V. 80. P. 115407-1-6
  • Dohnavalova K., Kusova K., Pelant I. // Appl. Phys. Lett. 2009. V. 94. P. 211903-1-3
  • Xe Y., Su Y., Yang X., Kang Z., Xu T., Zhang R., Fan Ch., Lee Sh.-T. // J. Amer. Chem. Soc. 2009. V. 131. P. 4434--4438.
  • Patrick K., Schmidt T., Bublitz S., Muhlig Chr., Paa W., Huisken F. // Appl. Phys. Lett. 2011. V. 98. P. 083111
  • Hannah D.C., Jang J., Podsiadlo P., Chan M.K.Y., Demortiere A., Gosztole D.J., Prakarenka V.B., Schatz G.C., Kortshagen U., Schallen R.D. // Nano Lett. 2012. V. 12. P. 4200--4205
  • Li Q., He Y., Chang J., Wang L., Chen H., Tan Y.-W., Wang H., Shao Z. // J. Amer. Chem. Soc. 2013. V. 135. P. 14924--14927
  • Tu Ch.-Ch., Hoo J.H., Bohringer K.F., Lin L.Y., Cao G. // Optics Express. 2014. V. 22. P. A276--A281
  • Yang L., Liu Y., Zhong Y.-L., Jiang X.-X., Song B., Ji X.-Y., Su Y.-Y., Liao L.-Sh., He Y. // Appl. Phys. Lett. 2015. V. 106. P. 173109
  • Valenta J., Greben M., Gutsch S., Hiller D., Zacharias M. // Appl. Phys. Lett. 2014. V. 105. P. 243107
  • Sangghalen F., Sychugov I., Yang Z., Veinot J.G.C., Linnros J. // ACS Nano. 2015. V. 9. P. 7097--7104
  • Valenta J., Greben M., Remes Z., Gratsch S., Hillen D., Zacharias M. // Appl. Phys. Lett. 2016. V. 108. P. 023102
  • Li Q., Luo T.-Y., Zhoi M., Abroshan H., Huang J., Kim H.J., Rosi N.L., Shao Z., Jin R. // ACS Nano. 2016. V. 10. P. 8385--8393.
  • Brown S.L., Krishnan R., Elbaradei A., Sivaguru J., Sibi M.P., Hobbie E.K. // AIP Advances. 2017. V. 7. P. 055314
  • Brown S.L., Miller J.B., Anthony R.J., Kortshagen U.R., Kryjevski A., Hobbie E.K. // ACS Nano. 2017. V. 11. P. 1597--1603
  • Greben M., Khoroshyy P., Liu X., Pi X., Valenta J. // J. Appl. Phys. 2017. V. 122. P. 034304
  • Kusova K., Hapala P., Valenta J., Jelinek P., Cibulka O., Ondic L., Pelant I. // Adv. Mater. Interfaces. 2014. V. 1. P. 1300042-1-9
  • Klimov V.I., Schwarz Ch.J., McBranch D.W., White C.W. // Appl. Phys. Lett. 1998. V. 73. P. 2603--2605
  • Trojanek F., Neudert K., Maly P., Dohnalova K., Pelant I. // J. Appl. Phys. 2006. V. 99. P. 116108
  • Lioudakis E., Othonos A., Nassiopoulou A.G. // Appl. Phys. Lett. 2007. V. 90. P. 171103
  • Sykora M., Mangolini L., Schaller R.D., Kortshagen U., Jurbergs D., Klimov V.I. // Phys. Rev. Lett. 2008. V. 100. P. 067401
  • Kuntermann V., Cimpean C., Brehm G., Sauer G., Kryschi C. // Phys. Rev. B. 2008. V. 77. P. 115343
  • Cimpean C., Groenewegen V., Kuntermann V., Sommer A., Kryschi C. // Laser \& Photon. Rev. 2009. V. 3. P. 138--145
  • Groenewegen V., Kuntermann V., Haarer D., Kunz M., Kryschi C. // J. Phys. Chem. C. 2010. V. 114. P. 11693--11698.
  • Atkins T.M., Thibert A., Larsen D.S., Dey S., Browning N.D., Kauzlarich S.M. // J. Amer. Chem. Soc. 2011. V. 133. P. 20664--20667
  • Sommer A., Cimpean C., Kunz M., Oelsner Ch., Kupka H.J., Kryschi C. // J. Phys. Chem. C. 2011. V. 115. P. 22781--22788.
  • Hannah D.C., Yang J., Kramer N., Schatz G.C., Kortshagen U.R., Schaller R.D. // ACS Photonics. 2014. V. 1. P. 960--967
  • Kusova K., Ondivc L., Pelant I. // ACS Photonics. 2015. V. 2. P. 454--455
  • Hannah D.C., Yang J., Kramer N., Schatz G.C., Kortshagen U.R., Schaller R.D. // ACS Photonics. 2015. V. 2. P. 456--458
  • Компанец В.О., Чекалин С.В., Дорофеев С.Г., Кононов Н.Н., Барзилович П.Ю., Ищенко А.А. // Квант. электрон. 2014. Т. 44. N 6. С. 552--555
  • Merkel P.B., Kearns D.R. // J. Amer. Chem. Soc. 1972. V. 94. P. 7244--7253
  • Wang L., Li Q., Wang H.-Y., Huang J.-C., Zhang R., Chen Q.-D., Xu H.-L., Han W., Shao Z.-Z., Sun H.-B. // Light: Science \& Applications. 2015. V. 4. P. 245
  • Yang Z., De los Reyes G.B., Titova L.V., Sychugov I., Dasog M., Linnros J., Hegmann F.A., Veinot J.G.C. // ACS Photonics. 2015. V. 2. P. 595--605
  • Aharoni A., Oron D., Banin U., Rabani E., Jortner J. // Phys. Rev. Lett. 2008. V. 100. P. 057404
  • Wen Q., Kershaw St.V., Kalytchuk S., Zhovtiuk O., Reckmeier C., Vasilevskiy M.I., Rogach A.L. // ACS Nano. 2016. V. 10. N 4. P. 4301--4311
  • Kovalenko M.V., Kaufmann E., Pachinger D., Roither J., Huber M, Stangl J., Hesser G., Schaffler F., Heiss W. // J. Amer. Chem. Soc. 2006. V. 128. P. 3516--3517
  • Keuleyan S., Lhuillier E., Guyot-Sionnest P. // J. Amer. Chem. Soc. 2011. V. 133. P. 16422--16424
  • Keuleyan S., Kohler J., Guyot-Sionnest P. // J. Phys. Chem. C. 2014. V. 118. P. 2749--2753
  • Simonin O.E., Jonson J.C., Luther J.M., Midgett A.G., Nozik A.J., Beard M.C. // J. Phys. Chem. Lett. 2010. V. 1. P. 2445--2450
  • Du H., Chen Ch., Krishnan R., Krauss T.D., Harbold J.M., Wise F.W., Thomas M.G., Sileox J. // Nano Lett. 2002. V. 2. N 11. P. 1321--1324
  • Liu H., Guyot-Sionnest P. // J. Phys. Chem. C. 2010. V. 114. P. 14860--14863
  • Wehrenberg B.L., Wang C., Guyet-Sionnest P. // J. Phys. Chem. B. 2002. V. 106. P. 10634--10640
  • Литвин А.П., Парфенов П.С., Ушакова Е.И., Баранов А.В. // Научно-технич. вестник информ. технологий, механики и оптики. 2012. N 5. С. 32--38
  • Litvin A.P., Parfenov P.S., Ushakova E.V., Simoes Gamboa A.L., Fedorov A.V., Baranov A.V. // J. Phys. Chem. C. 2014. V. 118. P. 20721
  • Fernee M.J., Thomsen E., Jensen P., Rubinsztein-Dunlor H. // Nanotechnology. 2006. V. 17. P. 956--962
  • Greben M., Fucikova A., Valenta J. // J. Appl. Phys. 2015. V. 117. P. 144306
  • Hoy J., Morrison P.J., Steinberg L.K., Buhro W.E., Loomis R.A. // J. Phys. Chem. Lett. 2013. V. 4. P. 2053--2060.
  • Tonti D., van Mourik F., Chergui M. // Nano Lett. 2004. V. 4. N 12. P. 2483--2487
  • Mekis I., Talapin D.V., Kornowski A., Haase M., Weller H. // J. Phys. Chem. B. 2003. V. 107. N 30. P. 7454--7462
  • Xie R., Kolb U., Li J., Basche T., Mews A. // J. Amer. Chem. Soc. 2005. V. 127. P. 7480--7488
  • Shen Y., Tan R., Gee M.Y., Greytak A.B. // ACS Nano. 2015. V. 9. N 3. P. 3345--3359
  • Grabolle M., Ziegler J., Merkulov F., Nann T., Resch-Genger U.// Ann. NY. Acad. Sci. 2008. V. 1130. P. 235--241
  • Knowles K.E., Nelson H.D., Kilburn T.B., Gamelin D.R. // J. Amer. Chem. Soc. 2015. V. 137. P. 13138--13147
  • Whitham P.J., Marchioro A., Knowles K.E., Kilburn T.B., Reid Ph.J., Gamelin D.R. // J. Phys. Chem. C. 2016. V. 120. P. 17136--17142
  • Harnanaka Y., Ozawa K., Kuzuya T. // J. Phys. Chem. C. 2014. V. 118. N 26. P. 14562--14568
  • Allen P.M., Bawendi M.G. // J. Amer. Chem. Soc. 2008. V. 130. N 29. P. 9240--9241
  • Bodunov E.N., Danilov V.V., Panfutova A.S., Simoes Gamboa A.L. // Ann. Phys. (Berlin). 2016. V. 528. N 3--4. P. 272--275
  • Bodunov E.N., Antonov Yu.A., Simoes Gamboa A.L. // J. Chem. Phys. 2017. V. 146. P. 114102
  • Klimov V.I., McBranch D.W. // Phys. Rev. Lett. 1998. V. 80. N 18. P. 4028--4031
  • Klimov V.I., McBranch D.W., Leathardale C.A., Bawendi M.G. // Phys. Rev. B. 1999. V. 60. N 19. P. 13740--13749
  • Guyot-Sionnest P., Wehrenberg B., Yu D. // J. Chem. Phys. 2005. V. 123. P. 074709
  • Schnitzenbaumer K,J., Labrador T., Dukovic G. // J. Phys. Chem. C. 2015. V. 119. P. 13314--13324.
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.