"Оптика и спектроскопия"
Издателям
Вышедшие номера
Эффект воздействия коротковолнового УФ излучения при записи голографических структур на содержащих желатин регистрирующих средах (обзор)
Переводная версия: 10.1134/S0030400X1807010X
Ганжерли Н.М. 1, Гуляев С.Н. 2, Маурер И.А. 1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: nina.holo@mail.ioffe.ru, gulyaev@rphf.spbstu.ru, maureririna@yandex.ru
Выставление онлайн: 19 июня 2018 г.

В обзоре обсуждены возможности получения высокоэффективных рельефно-фазовых структур на галоидосеребряных фотоэмульсиях и слоях бихромированного желатина с помощью облучения первоначально зарегистрированных голографических структур коротковолновым УФ излучением. -18
  • Гуляев С.Н., Ратушный В.П. // Оптический журн. 2003. Т. 70. N 2. С. 45; Gulyaev S.N., Ratushnyi V.P. // J. Opt. Technol. 2003. V. 70. N 2. P. 105. doi 10.1364/JOT.70.000105
  • Gulyaev S.N., Isaev I.V. // Proceedings of SPIE. 2001. V. 4348. P. 59
  • Барачевский В.А. // Оптика и спектр. 2018. Т. 124. N 3. С. 371. doi 10.21883/OS.2018.03.45659.238-17
  • Neipp C., Pascual I., Belendez A. // Appl. Opt. 2002. V. 41. N 20. P. 4092
  • Ulibarrena M., Carretero L., Madrigal R., Blaya S., Fimia A. // Optics Express. 2003. V. 11. N 25. P. 3385
  • Banyasz I. // Optics Commun. 2003. V. 225. P. 269
  • Banyasz I. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 83. N 21. P. 4282
  • Лим С.В., Чой Д.В., Сон С.Х. // Оптический журн. 2004. Т. 71. N 1. С. 30; Lim S.V., Choy D.V., Son S.Kh. // J. Opt. Technol. 2004. V. 71. N 1. P. 26
  • Kim J.M., Choi B.S., Kim S.I., Kim J.M., Bjelkhagen H.I., Phillips N.J. // Appl. Opt. 2001. V. 40. N 5. P. 622
  • Kim J.M., Choi B.S., Choi Y.S., Kim J.M., Bjelkhagen H.I., Phillips N.J. // Appl. Opt. 2002. V. 41. N 8. P. 1522
  • Усанов Ю.Е., Шевцов М.К. // Оптика и спектр. 1990. Т. 69. N 1. C. 183
  • Усанов Ю.Е., Шевцов М.К., Кособокова Н.Л., Кириенко Е.А. // Оптика и спектр. 1991. Т. 71. N 4. C. 651
  • Neipp C., Marquez A., Pascual I., Belendez A. // J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 2003. V. 5. P. S183
  • Smith H.M. // J. Opt. Soc. Am. 1968. V. 58. N 4. P. 533
  • Бруй Е.Б., Корешев С.Н. // Оптика и спектр. 1989. Т. 67. N 3. C. 685
  • Гальперн А.Д., Калинина И.В., Селявко Л.В., Смаев В.П. // Оптика и спектр. 1986. Т. 60. N 5. С. 1040
  • Ecevit F.N., Alacakir A., Aydin R. // Appl. Opt. 1996. V. 35. N 31. P. 6227
  • Navarrete-Garcia E., Calixto S. // Optical Materials. 2003. V. 23. P. 501
  • Бутусов М.М., Иоффе А.И. // Квантовая электроника. 1976. Т. 3. N 5. С. 969
  • Гуляев С.Н. // Дис. канд. физ.-мат. наук. СПб: СПб ГПУ, 2005. 196 с
  • Ганжерли Н.М., Денисюк Ю.Н., Маурер И.А., Черных Д.Ф. // ЖТФ. 2005. Т. 75. N 2. С. 135; Ganzherl N.M., Denisyuk Y.N., Maurer I.A., Chernykh D.F. // Tech. Phys. 2005. V. 50. N 2. P. 274. doi 10.1134/1.1866449
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н. // Оптический журн. 2007. Т. 74. N 9. С. 56; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N. // J. Opt. Technol. 2007. V. 74. N 9. P. 622. doi 10.1364/JOT.74.000622
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А. // Химия высоких энергий. 2008. Т. 42. N 4. С. 41; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A. // High Energy Chemistry. 2008. V. 42. N 7. P. 540. doi 10.1134/S0018143908070114
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Гурин А.С., Крамущенко Д.Д., Маурер И.А., Черных Д.Ф. // ЖТФ. 2009. Т. 79. N 7. С. 76; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Gurin A.S., Kramushchenko D.D., Maurer I.A., Chernykh D.F. // Tech. Phys. 2009. V. 54. N 7. P. 1002. doi 10.1134/S1063784209070123
  • Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A., Chernykh D.F. // Proceedings of SPIE. 2009. V. 7358. P. 735817
  • О'Нейл Э. Введение в статистическую оптику. М.: Мир, 1966. С. 151--152
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А., Черных Д.Ф. // Мир голографии. 2013. Т. 1. N 1. С. 35. [Электронный ресурс] Режим доступа: http://www.holography-journal.com/wp-content/themes/ /eCommerce/Files/W\_H\_vol1\_N1.pdf
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А., Черных Д.Ф. // ЖТФ. 2014. Т. 84. N 12. С. 112; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A., Chernykh D.F. // Technical Physics. 2014. V. 59. P. 1849
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А., Черных Д.Ф. // Оптический журн. 2015. Т. 82. N 3. С. 37; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A., Chernykh D.F. // J. Opt. Technol. 2015. V. 82. N 3. P. 158
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Гурин А.С., Крамущенко Д.Д., Маурер И.А., Черных Д.Ф. // Оптический журн. 2009. Т. 76. N 7. С. 16; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Gurin A.S., Kramushchenko D.D., Maurer I.A., Chernykh D.F. // J. Opt. Technol. 2009. V. 76. N 7. P. 388. doi 10.1364/JOT.76.000388
  • Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A., Sotnikova G.Yu., Chernykh D.F. // Proceedings of SPIE. 2011. V. 8074. P. 80740T-1
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А., Черных Д.Ф., Яловик С.А. // ЖТФ. 2012. Т. 82. N 9. С. 49; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A., Chernykh D.F., Yalovik S.A. // Tech. Phys. 2012. V. 57. N 9. P. 1230. doi 10.1134/S1063784212090101
  • Pennington K.S., Harper J.S., Laming F.P. // Appl. Phys. Lett. 1971. V. 18. N 3. P. 80
  • Shankoff T.A. // Appl. Opt. 1968. V. 7. P. 2101-42105. doi 10.1364/AO.7.002101
  • Козаков О.Н., Кулипанов С.А. // Журн. научн. и прикл. фотографии. 1994. Т. 39. N 1. С. 17
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А. // Письма в ЖТФ. 2016. Т. 42. N 19. С. 26; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A. // Technical Physics Lett. 2016. V. 42. N 10. P. 988. doi 10.1134/S1063785016100060
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А. // Оптический журн. 2017. Т. 84. N 9. С. 1; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A. // Optical Technology. 2017. V. 84. N 9. P. 617. doi 10.1364/JOT.84.000617
  • Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А., Хазвалиева Д.Р. // Оптика и спектр. 2018. Т. 124. N 3. С. 400; Ganzherli N.M., Gulyaev S.N., Maurer I.A., Khazvalieva D.R. // Optics Spectrosc. 2018. V. 124. N 3. P. 408. doi 10.21883/OS.2018.03.45660.246-17
  • McCord M.A., Rooks M.J. // Handbook of Microlithography, Micromachining and Microfabrication / Ed. by P. Rai-Choudhury. V. 1: Microlithography. Ch. 2. Electron Beam Lithography. Bellingham, Washington: SPIE Optical Engineering Press. 1997. P. 139. doi 10.1117/3.2265070
  • Моро У. Микролитография. М.: Мир, 1990. В 2-х частях. М.: Мир, 1990. 605+632 с
  • Haiducu M., Rahbar M., Foulds I.G., Johnstone R.W., Sameoto D., Parameswaran M. // J. Micromech. Microeng. 2008. V. 18. N 11. P. 115029. doi 10.1088/0960-1317/18/11/115029
  • Johnstone R.W., Foulds I.G., Parameswaran M. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2008. V. 26. N 2. P. 682. doi 10.1116/1.2890688
  • Гуляев С.Н. Фазовые голограммы на галоидосеребряных фотоматериалах. 2007. С. 168. [Электронный ресурс] Режим доступа: http://www.ioffe.ru/loeg/denisyuk\_seminar.html
  • Rooks M.J., Kratschmer E., Viswanathan R., Katine J., Fontana R.E. Jr., MacDonald S.A. // J. Vacuum Sci. Technol. B. 2002. V. 20. N 6. P. 2937. doi 10.1116/1.1524971
  • Hoole C.F., Welland M.E., Broers A.N. // Semiconductor Sci. Technol. 1997. V. 12. N 9. P. 1166. doi 10.1088/0268-1242/12/9/017
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.