Критически проанализированы оценки калибровочной константы линии 3107 cm^-1, обусловленной дефектом N₃VH в алмазе. Показано, что концентрация примеси химического элемента [E], обусловленная дефектом D, и S_ν - интегральная интенсивность ИК-линии поглощения на частоте ν, вызванная этим дефектом, удовлетворяют неравенству [E]≥ nC_DS_ν, где C_D - калибровочная константа для дефекта D, а n - число атомов элемента [E], формирующих дефект D. В соответствии с этим неравенством в координатной плоскости [E] vs S_ν физически допустимые значения [E] и S_ν лежат выше или на прямой линии, проходящей через начало координат с наклоном nC_D. В случае дефекта N₃VH в алмазе и линии ИК-поглощения на частоте 3107 cm^-1 указанное неравенство принимает вид [H]≥ C_N3VHS₃₁₀₇ для водорода и [N]≥ 3C_N3VH для азота. Применение этого критерия к имеющимся в настоящее время результатам измерения [H] и S₃₁₀₇ методами масс-спектрометрии вторичных ионов и ИК-спектроскопии приводит к C_N3VH = 0.71x 10¹⁷ cm^-1 как верхнему пределу возможных значений калибровочной константы для N₃VH в алмазе. Ключевые слова: ИК-спектроскопия, масс-спектрометрия вторичных ионов, алмаз, водород, дефект N₃VH, калибровочная константа.