Сравнение моделей радиационного нагрева на примере люминесцентного висмутового боросиликатного стекла с Eu3+
The study was supported by a grant from the Russian Science Foundation No. 25-29-01543, https://rscf.ru/project/25- 29-01543/
Кравец В.А., Гусев Г.А.
Email: vladislav2033@yandex.ru
Поступила в редакцию: 9 мая 2026 г.
В окончательной редакции: 6 июля 2026 г.
Принята к печати: 11 июля 2026 г.
Выставление онлайн: 23 сентября 2026 г.
Проведена экспериментальная верификация двух полуэмпирических моделей, используемых для оценки локального радиационного нагрева материалов под воздействием электронного пучка средних энергий. Исследование выполнено на примере висмутового боросиликатного стекла с помощью микроанализатора, оснащённого оптической системой для наблюдения in situ облучаемой поверхности стекла. Критерием адекватности моделей служило соответствие расчётной температуры нагрева, определённой в условиях изменения рельефа поверхности стекла, температуре стеклования. Расчет проводился по методам Р. Кастена и М.Н. Филиппова. Обе модели показали занижение расчетной температуры относительно температуры стеклования. Ключевые слова: облучение электронным пучком, нагрев, висмутовое боросиликатное стекло.
- Л.А. Бакалейников, Е.В. Галактионов, В.В. Третьяков, Э.А. Тропп. ФТТ, 43 (5), 779 (2001). DOI: 10.1134/1.1371357
- R. Castaing. Adv. Electron. Electron. Phys., 13, 317 (1960). DOI: 10.1016/S0065-2539(08)60212-7
- М.Н. Филиппов. Изв. РАН. Сер. физ., 57 (8), 165 (1993)
- T. Brintlinger, Y. Qi, K.H. Baloch, D. Goldhaber-Gordon, J. Cumings. Nano Lett., 8, 582 (2008). DOI: 10.1021/nl0729375
- K.H. Baloch, N. Voskanian, M. Bronsgeest, J. Cumings. Nat. Nanotech., 7, 315 (2012). DOI: 10.1038/nnano.2012.39
- T. Yokota, M. Murayama, J.M. Howe. Phys. Rev. Lett., 91, 265504 (2003). DOI: 10.1103/PhysRevLett.91.265504
- J.M. Howe, T. Yokota, M. Murayama, W.A. Jesser. J. Electron Microsc. (Tokyo), 53, 107 (2004). DOI: 10.1093/jmicro/53.2.107
- L. Shi, J. Zhou, P. Kim, A. Bachtold, A. Majumdar, P.L. McEuen. J. Appl. Phys., 105, 104306 (2009). DOI: 10.1063/1.3126708
- K. Zheng, C. Wang, Y.Q. Cheng, Y. Yue, X. Han, Z. Zhang, E. Ma. Nat. Commun., 1, 24 (2010). DOI: 10.1038/ncomms1021
- V.A. Kravets, E.V. Ivanova, K.N. Orekhova, M.A. Petrova, G.A. Gusev, A.N. Trofimov, M.V. Zamoryanskaya. J. Lumines., 226, 117419 (2020). DOI: 10.1016/j.jlumin.2020.117419
- M.V. Zamoryanskaya, S.G. Konnikov, A.N. Zamoryanskii. Instrum. Exp. Tech., 47, 477 (2004). DOI: 10.1023/B:INET.0000038392.08043.d6
- P. Hovington, D. Drouin, R. Gauvin. Scanning, 19 (1) (1997). DOI: 10.1002/sca.4950190101
© 2026 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук