Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2026, выпуск 8 » Статья стр. 934
<<<>>>
Эпоксиакрилатные/SiO2 композиты с возможностью контроля оптических и реологических свойств
Чекулаев И.С. 1, Кучеров Р.Н. 1, Дежуров С.В.1, Антошкевич А.В.1, Чаусов Д.Н.1
1Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва, Россия
Email: Chekulaev.I.S@yandex.ru
Поступила в редакцию: 26 ноября 2025 г.
В окончательной редакции: 13 января 2026 г.
Принята к печати: 3 июня 2026 г.
Выставление онлайн: 7 сентября 2026 г.
PDF версия
Выполнен синтез и проведено исследование оптически прозрачных эпоксиакрилатных композитов, свойства которых можно целенаправленно регулировать. Показано, что сформированные функциональные покрытия на основе эпоксиакрилатных композитов характеризуются высокой прозрачностью в оптическом диапазоне (более 96 %), термической стабильностью при нагреве до 423 K и отсутствием внутренних дефектов. Установлено, что введение наночастиц SiO2 в различных концентрациях обеспечивает целенаправленное регулирование реологических и оптических параметров композитов на стадии синтеза, позволяя изменять вязкость в диапазоне от 103 до 2·104 mPa·s и снижать показатель преломления на 0.02. Реализация двухстадийного процесса отверждения (УФ- и термического) позволяет точечно экспонировать полученные покрытия с разрешением порядка 1 μm, что определяет перспективность их использования в качестве функциональных покрытий для оптоэлектронных устройств, ориентирующих слоев жидкокристаллических материалов, а также матриц для нанокристаллических систем. Ключевые слова: эпоксиакрилатные композиты, наночастицы диоксида кремния, прозрачные УФ-отверждаемые покрытия.
  1. J.G. Liu, H.J. Ni, Z.H. Wang, S.Y. Yang, W.F. Zhou. Optoelectronics --- Materials and Devices, 3, 1--20 (2015). DOI: 10.5772/60432
  2. D.N. Chausov, A.D. Kurilov, N.S. Parashchuk, A.V. Nuriev, A.A. Morozov, A.D. Bozhko, V.S. Zhurkin, A.V. Kazak, S.A. Stakharniy. Appl. Surf. Sci., 711, 163954 (2025). DOI: 10.1016/j.apsusc.2025.163954
  3. A.D. Kurilov, D.N. Chausov, V.V. Osipova, D.O. Sagdeev, I.S. Chekulaev, R.N. Kucherov, V.V. Belyaev, Y.G. Galyametdinov. Soft Matter., 11 (19), 2110-2119 (2023). DOI: 10.1039/d2sm01352e
  4. D.N. Chausov, A.D. Kurilov, A.I. Smirnova, D.N. Stolbov, R.N. Kucherov, A.V. Emelyanenko, S.V. Savilov, N.V. Usol'tseva. J. Molec. Liq., 374 (15), 121139 (2023). DOI: 10.1016/j.molliq.2022.121139
  5. A.D. Kurilov, I.S. Chekulaev, S.M. Shammai Irani, N.S. Parashchuk, V.S. Bezruchenko, V.V. Belyaev, D.N. Chausov. J. Phys.: Conf. Ser. --- IOP Publishing, 1 (2056), 012029 (2021). DOI: 10.1088/1742-6596/2056/1/012029
  6. D.N. Chausov. Liq. Cryst. Appl., 18 (3), 45--52 (2018). DOI: 10.18083/LCAppl.2018.3.45
  7. W. Chi, S.K. Banerjee. Chem. Mater., 33 (12), 4269--4303 (2021). DOI: 10.1021/acs.chemmater.1c00773
  8. H. Chen, H. Wang, Y. Xue, Q. Ge, Y. Du, J. Yin, Bo Yang, S. Yang, X. Liu, M. Cai, S. Dai Chem. Engineering J., 450, 138028 (2022). DOI: 10.1016/j.cej.2022.138028
  9. H.C. Wang, Z. Bao, H.Y. Tsai, A.C. Tang, R.S. Liu. Small, 14 (1), 1702433 (2018). DOI: 10.1002/smll.201702433
  10. T. Eiselt, J. Preinfalk, U. Gleissner, U. Lemmer, T. Hanemann. Opt. Eng., 56 (3), 037105 (2017). DOI: 10.1117/1.OE.56.3.037105
  11. A. Priyadarshi, L. Shimin, S.G. Mhaisalkar, R. Rajoo, E.H. Wong, V. Kripesh, E.B. Namdas. J. Appl. Polym. Sci., 98 (3), 950--956 (2005). DOI: 10.1002/app.22003
  12. Q. Zhang, J. Ge, J. Goelb, Y. Hu, Z. Lu, Y. Yin. Nano Research, 2, 583--591 (2009). DOI: 10.1007/s12274-009-9060-5
  13. M. Muth, P. Carstensen, W. Hintze, S. Gnadt, C. Brillinger, C. Moller, C. Bohlmann. Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XIII, 12618, 45--61 (2023). DOI: 10.1117/12.2673830
  14. A. Priyadarshi, L. Shimin, S.G. Mhaisalkar, R. Rajoo, E.H. Wong, V. Kripesh, E.B. Namdas. J. Appl. Polym. Sci., 98 (3), 950--956 (2005). DOI: 10.1002/app.22003
  15. P. Nag, Z. Mingwei, T. Ng Hou, G. Sivapackia, L. Zhiyong. Int. Display Workshops, 29, 864--867 (2022). DOI: 10.36463/idw.2022.0864
  16. S.K. Pavuluri, M. Ferenets, G. Goussetis, M.P. Desmulliez, T. Tilford, R. Adamietz, G. Mueller, F. Eicher, C. Bailey. IEEE Transact. Comp., Pack. Manufact. Technol., 2 (5), 799--806 (2012). DOI: 10.1109/TCPMT.2011.2177524
  17. W. Stober, A. Fink, E. Bohn. J. Colloid Interface Sci., 26 (1), 62--69 (2017). DOI: 10.1016/0021-9797(68)90272-5
  18. A. Christy, R. Purohit, R.S. Rana, S.K. Singh, S. Rana. Materials Today: Proceedings, 4 (2), 2748--2754 (2017). DOI: 10.1016/j.matpr.2017.02.152
  19. Z. Liu, P. Li, S. Luo, Z. Liu, R. Sun, S. Yu. Results in Materials, 23, 100586 (2024). DOI: 10.1016/j.rinma.2024.100586
  20. F. Hu, K.D. Rasamani, S.C. Abeyweera, D. Zhang, Y. Sun. ChemNanoMat, 8, 3, e202200006 (2022). DOI: 10.1002/cnma.202200006
  21. S.V. Dezhurov, I.S. Chekulaev, R.N. Kucherov, D.N. Chausov. Progr. Org. Coat., 200, 109052 (2025). DOI: 10.1016/j.porgcoat.2025.109052
  22. J. Kohout. Molecules, 26, 7162 (2021). DOI: 10.3390/molecules26237162
  23. P.C. Sukanek. J. Electrochem. Soc., 138, 1712 (1991). DOI: 10.1149/1.2085860

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2026 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme