Вышедшие номера
Низкотемпературный синтез стеклокерамики с кристаллитами YNbO4 : Eu3+
Переводная версия: 10.1134/S0030400X21020077
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), БелМолА, 19-52- 04011
Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований (БРФФИ), Т19РМ030
Кравец В.А.1, Иванова Е.В.1, Орехова К.Н.1, Гусев Г.А.1, Васькевич В.В.2, Москвичёв М.И.1, Заморянская М.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Гомельский государственный университет им. Ф. Скорины, Гомель, Беларусь
Email: vladislav2033@yandex.ru, ggusev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 23 июня 2020 г.
В окончательной редакции: 30 сентября 2020 г.
Принята к печати: 14 октября 2020 г.
Выставление онлайн: 20 ноября 2020 г.

Основной целью работы было проведение низкотемпературного синтеза стеклокерамики с кристаллитами YNbO4 : Eu3+ и исследование структурных и люминесцентных свойств получившихся образцов. В рамках работы впервые были исследованы включения, кристаллизовавшиеся в системах SiO2-Na2O-K2O-Y2O3-Nb2O5-Eu2O3 (SiNaK) и B2O5-Na2O-Y2O3-Nb2O5-Eu2O3 (BNa) в условиях низкотемпературного синтеза. Было показано, что в обеих исследуемых системах кристаллизовался YNbO4 : Eu3+. В системе SiNaK при выбранных условиях также произошла кристаллизация SiO2 (кварц, кристаболит и тридимит). Наиболее перспективной для синтеза активированной стеклокерамики с YNbO4 показала себя система BNa, так как в ней кристаллизовались только искомые кристаллиты. Люминесцентные свойства кристаллических включений были исследованы с использованием метода локальной катодолюминесценции. Состав и структура стеклокерамики были изученными методами рентгеноспектрального микроанализа и рентгенодифракционного фазового анализа. Ключевые слова: YNbO4, люминесценция, ион европия, стеклокерамика.
  1. Местер А.Ю., Можаров А.М., Трофимов А.Н., Заморянская М.В. // Опт. и спектр. 2016. Т. 120. N 5. С. 768; Mester A.Y., Mozharov A.M., Trofimov A.N., Zamoryanskaya M.V. // Opt. Spectrosc. 2016. V. 120. P. 726. doi 10.1134/S0030400X16050192
  2. Nazarov M., Kim Y.J., Lee E.Y., Min K.I., Jeong M.S., Lee S.W., Noh D.Y. // J. Appl. Phys. 2010. V. 107. P. 103104. doi 10.1063/1.3392918
  3. Davcanin L.R., Lukic-Petrovic S.R., Petrovic D.M., Nikolic M.G., Dramicanin M.D. // J. Lumin. 2014. V. 151. P. 82. doi 10.1016/j.jlumin.2014.02.008
  4. Blasse G., Bril A. // J. Electrochem. Soc. 1968. V. 115. P. 1067
  5. Blasse G., Bril A. // J. Lumin. 1970. V. 3. N 2. P. 109. doi 10.1016/0022-2313(70)90011-6
  6. Dymshits O.S., Alekseeva I.P., Zhilin A.A., Tsenter M.Y., Loiko P.A., Skoptsov N.A., Malyarevich A.M., Yumashev K.V., Mateos X., Baranov A.V. // J. Lumin. 2015. V. 160. P. 337. doi 10.1016/j.jlumin.2014.12.040
  7. Loiko P.A., Dymshits O.S., Alekseeva I.P., Zhilin A.A., Tsenter M.Y., Vilejshikova E.V., Bogdanov K.V., Mateos X., Yumashev K.V. // J. Lumin. 2016. V. 179. P. 64. doi 10.1016/j.jlumin.2016.06.042
  8. Hirano M., Dozono H. // Mater. Res. Bull. 2014. V. 50. P. 213. doi 10.1016/j.materresbull.2013.10.041
  9. Ding S., Peng F., Zhang Q., Luo J., Liu W., Sun D., Dou R., Sun G. // Opt. Mater. 2016. V. 62. P. 7. doi 10.1016/j.optmat.2016.09.032
  10. Kim K.-Y., Durand A., Heintz J.-M., Veillere A., Jubera V. // J. Solid State Chem. 2016. V. 235. P. 169. https://doi.org/10.1016/j.jssc.2015.12.023
  11. Massabni A.M.G., Montandon G.J.M., dos. Santos M.A.C. // Mater. Res. 1998. V. 1. P. 1. doi 10.1590/S1516-14391998000100002
  12. Ivanova E.V., Kravets V.A., Orekhova K.N., Gusev G.A., Popova T.B., Yagovkina M.A., Bogdanova O.G., Burakov B.E., Zamoryanskaya M.V. // J. Alloys Compd. 2019. V. 808. P. 151778. doi 10.1016/j.jallcom.2019.151778
  13. Кравец В.A., Орехова К.Н., Яговкина М.А., Иванова Е.В., Заморянская М.В. // Опт. и спектр. 2018. Т. 125. N 2. С. 180; Kravets V.A., Orekhova K.N., Yagovkina M.A., Ivanova E.V., Zamoryanskaya M.V. // Opt. Spectrosc. 2018. V. 125. P. 188. doi 10.1134/S0030400X18080167
  14. Галахов Ф.Я. Диаграммы состояния систем тугоплавких оксидов. Справочник. В. 5. Ч. 2. М.: Наука, 1986. 284 с
  15. Zamoryanskaya M.V., Konnikov S.G., Zamoryanskii A.N. // Instrum. Exp. Tech. 2004. V. 47. P. 477. doi 10.1023/B:INET.0000038392.08043.d6
  16. Malashkevich G.E., Makhanek A.G., Semchenko A.V., Gaishun V.E., Mel'nichenko I.M., Poddenezhnyi E.N. // Phys. Solid State. 1999. V. 41. P. 202. doi 10.1134/1.1130755
  17. Nogami M., Abe Y. // Appl. Phys. Lett. 1997. V. 71. P. 3465. doi 10.1063/1.120361
  18. You H., Nogami M. // J. Appl. Phys. 2004. V. 95. P. 2781. doi 10.1063/1.1646433
  19. Kravets V.A., Ivanova E.V., Orekhova K.N., Petrova M.A., Gusev G.A., Trofimov A.N., Zamoryanskaya M.V. // J. Lumin. 2020. P. 117419. doi 10.1016/j.jlumin.2020.117419
  20. Rodri guez V.D., Lavi n V., Rodri guez-Mendoza U.R., Marti n I.R., Nuntez P. // Radiat Eff. Defects Solids. 1995. V. 135. N 1-4. P. 105. doi 10.1080/10420159508229816
  21. Иванова Е.В., Заморянская М.В. // ФTT. 2016. Т. 58. N 10. С. 1895; Ivanova E.V., Zamoryanskaya M.V. // Phys. Solid State. 2016. V. 58. P. 1962. doi 10.1134/S1063783416100188

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.