Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 16-29-09580
Минобрнауки России (государственное задание), 3.933.2017/4.6
Бабичев А.В.
1, Пашнев Д.А.
2,3, Гладышев А.Г.
1, Курочкин А.С.1, Колодезный Е.С.
1, Карачинский Л.Я.
1,4,5, Новиков И.И.
1,4,5, Денисов Д.В.6, Дюделев В.В.
5, Соколовский Г.С.
5, Фирсов Д.А.
2, Воробьев Л.Е.
2, Слипченко С.О.
5, Лютецкий А.В.
5, Пихтин Н.А.
5, Егоров А.Ю.
1
1Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
3Center for Physical Sciences and Technology, Vilnius, Lithuania
4ООО "Коннектор Оптикс", Санкт-Петербург, Россия
5Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
6Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Выставление онлайн: 24 мая 2020 г.
Предложена и реализована конструкция резонатора квантово-каскадного лазера спектрального диапазона 7-8 μm на основе полукольца с различными значениями радиуса. Для квантово-каскадного лазера с радиусом полукольцевого резонатора 191 μm была продемонстрирована генерация с шириной спектра излучения 474 nm (82 cm-1) при низких температурах. Межмодовое расстояние в таких лазерах определялось модами шепчущей галереи, типичными для кольцевых резонаторов. При комнатной температуре ширина спектра генерации составила 190 nm (31 cm-1), что может быть связано с увеличением внутренних потерь с ростом температуры. Увеличение радиуса резонатора до 291 μm позволило реализовать комнатную генерацию с модами шепчущей галереи с шириной спектра излучения 249 nm (40 cm-1) за счет уменьшения потерь на зеркалах. Ключевые слова: сверхрешетки, квантово-каскадные лазеры, эпитаксия, фосфид индия, полукольцевой резонатор.
- Tredicucci A., Gmachl C., Capasso F., Sivco D.L., Chu S.-N. G., Hutchinson A.L., Cho A.Y. // Electron. Lett. 2000. V. 36. N 4. P. 328. doi 10.1049/el:20000334
- Colombelli R., Gmachl C., Sergent A.M., Sivco D.L., Narimanov E.E., Podolskiy V.A., Cho A.Y., Capasso F. // IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2006. V. 12. N 1. P. 66--70. doi 10.1109/jstqe.2005.863000
- Anders S., Schrenk W., Lugstein A., Strasser G. // Phys. E. 2003. V. 17. P. 626--628. doi 10.1016/s1386-9477(02)00910-4
- Gmachl C., Faist J., Capasso F., Sirtori C., Sivco D.L., Cho A.Y. // IEEE J. Quantum Electron. 1997. V. 33. N 9. P. 1567--1573. doi 10.1109/3.622638
- Fasching G., Tamosiunas V., Benz A., Andrews A.M., Unterrainer K., Zobl R., Roch T., Schrenk W., Strasser G. // IEEE J. Quantum Electron. 2007. V. 43. N 8. P. 687--697. doi 10.1109/jqe.2007.900254
- Faist J., Gmachl C., Striccoli M., Sirtori C., Capasso F., Sivco D.L., Cho A.Y. // Appl. Phys. Lett. 1996. V. 69. N 17. P. 2456--2458. doi 10.1063/1.117496
- Gmachl C., Capasso F., Narimanov E.E., Nockel J.U., Stone A.D., Faist J., Sivco D.L., Cho A.Y. // Science. 1998. V. 280. N 5369. P. 1556--1564. doi 10.1126/science.280.5369.1556
- Fang W., Cao H., Solomon G.S. // Appl. Phys. Lett. 2007. V. 90. N 8. P. 081108. doi 10.1063/1.2535692
- Gianordoli S., Hvozdara L., Strasser G., Schrenk W., Faist J., Gornik E. // IEEE J. Quantum Electron. 2000. V. 36. N 4. P. 458--464. doi 10.1109/3.831022
- Yan C., Wang Q.J., Diehl L., Hentschel M., Wiersig J., Yu N., Pflugl C., Capasso F., Belkin M.A., Edamura T., Yamanishi M., Kan H. // Appl. Phys. Lett. 2009. V. 94. N 25. P. 251101. doi 10.1063/1.3153276
- Anders S., Tamosiunas V., Schrenk W., Strasser G. // Phys. Rev. B. 2004. V. 69. N 7. P. 073309. doi 10.1103/physrevb.69.073309
- Mujagic E., Schartner S., Hoffmann L.K., Schrenk W., Semtsiv M.P., Wienold M., Masselink W.T., Strasser G. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 93. N 1. P. 011108. doi 10.1063/1.2958910
- Mujagic E., Hoffmann L.K., Schartner S., Nobile M., Schrenk W., Semtsiv M.P., Masselink W.T., Strasser G. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 93. N 16. P. 161101. doi 10.1063/1.3000630
- Mujagic E., Schwarzer C., Schrenk W., Yao Y., Chen J., Gmachl C.F., Strasser G. // Opt. Eng. 2010. V. 49. N 11. P. 111113. doi 10.1117/1.3505830
- Schwarzer C., Mujagic E., Yao Y., Schrenk W., Chen J., Gmachl C., Strasser G. // Appl. Phys. Lett. 2010. V. 97. N 7. P. 071103. doi 10.1063/1.3479913
- Mujagic E., Schwarzer C., Yao Y., Chen J., Gmachl C., Strasser G. // Appl. Phys. Lett. 2011. V. 98. N 14. P. 141101. doi 10.1063/1.3574555
- Schwarzer C., Mujagic E., Ahn S.I., Andrews A.M., Schrenk W., Charles W., Gmachl C., Strasser G. // Appl. Phys. Lett. 2012. V. 100. N 19. P. 191103. doi 10.1063/1.4712127
- Harrer A., Szedlak R., Schwarz B., Moser H., Zederbauer T., MacFarland D., Detz H., Andrews A.M., Schrenk W., Lendl B., Strasser G. // Sci. Rep. 2016. V. 6. N 1. doi 10.1038/srep21795
- Schwarzer C., Szedlak R., Ahn S.I., Zederbauer T., Detz H., Andrews A.M., Schrenk W., Strasser G. // Appl. Phys. Lett. 2013. V. 103. N 8. P. 081101. doi 10.1063/1.4819034
- Szedlak R., Schwarzer C., Zederbauer T., Detz H., Maxwell Andrews A., Schrenk W., Strasser G. // Opt. Express. 2014. V. 22. N 13. P. 15829--15836. doi 10.1364/oe.22.015829
- Szedlak R., Schwarzer C., Zederbauer T., Detz H., Maxwell Andrews A., Schrenk W., Strasser G. // Appl. Phys. Lett. 2014. V. 104. N 15. P. 151105. doi 10.1063/1.4871520
- Harrer A., Szedlak R., Schwarz B., Moser H., Zederbauer T., MacFarland D., Detz H., Maxwell Andrews A., Schrenk W., Lendl B., Strasser G. // Sci. Rep. 2016. V. 6. N 1. P. 21795. doi 10.1038/srep21795
- Szedlak R., Holzbauer M., Reininger P., MacFarland D., Zederbauer T., Detz H., Maxwell Andrews A., Schrenk W., Strasser G. // Vib. Spectrosc. 2016. V. 84. P. 101--105. doi 10.1016/j.vibspec.2016.03.009
- Szedlak R., Holzbauer M., MacFarland D., Zederbauer T., Detz H., Andrews A.M., Schrenk W., Rotter S., Strasser G. // Sci. Rep. 2015. V. 5. P. 16668. doi 10.1038/s41598-018-26267-x
- Szedlak R., Harrer A., Holzbauer M., Schwarz B., Waclawek J.P., MacFarland D., Zederbauer T., Detz H., Maxwell Andrews A., Schrenk W., Lendl B., Strasser G. // ACS Photonics. 2016. V. 3. N 10. P. 1794--1798. doi 10.1021/acsphotonics.6b00603
- Babichev A.V., Gusev G.A., Sofronov A.N., Firsov D.A., Vorob'ev L.E., Usikova A.A., Zadiranov Yu.M., Il'inskaya N.D., Nevedomskii V.N., Dyudelev V.V., Sokolovskii G.S., Gladyshev A.G., Karachinsky L.Ya., Novikov I.I., Egorov A.Y. // Tech. Phys. 2018. V. 63. N 10. P. 1511--1515. doi 10.1134/s1063784218100043
- Babichev A.V., Kurochkin A.S., Kolodeznyi E.C., Filimonov A.V., Usikova A.A., Nevedomsky V.N., Gladyshev A.G., Karachinsky L.Ya., Novikov I.I., Egorov A.Y. // Semiconductors. 2018. V. 52. N 6. P. 745--749. doi 10.1134/s1063782618060039
- Babichev A.V., Gladyshev A.G., Kurochkin A.S., Kolodeznyi E.S., Sokolovskii G.S., Bougrov V.E., Karachinsky L.Ya., Novikov I.I., Bousseksou A., Egorov A.Y. // Semiconductors. 2018. V. 52. N 8. P. 1082--1085. doi 10.1134/S1063782618080031
- Babichev A.V., Gladyshev A.G., Filimonov A.V., Nevedomskii V.N., Kurochin A.S., Kolodeznyi E.S., Sokolovskii G.S., Bugrov V.E., Karachinsky L.Ya., Novikov I.I., Bousseksou A., Egorov A.Y. // Tech. Phys. Lett. 2017. V. 43. N 7. P. 666--669. doi 10.1134/S1063785017070173
- Babichev A.V., Dudelev V.V., Gladyshev A.G., Mikhailov D.A., Kurochkin A.S., Kolodeznyi E.S., Bugrov V.E., Nevedomskii V.N., Sokolovskii G.S., Karachinsky L.Ya., Novikov I.I., Denisov D.V., Ionov A.S., Slipchenko S.O., Lyutetskii A.V., Pikhtin N.A., Sokolovskii G.S., Egorov A.Yu. // Tech. Phys. Lett. 2019. V. 45. N 7. P. 735--738. doi 10.1134/S1063785019070174
- Babichev A.V., Gladyshev A.G., Kurochkin A.S., Dudelev V.V., Kolodeznyi E.S., Sokolovskii G.S., Bugrov V.E., Karachinsky L.Ya., Novikov I.I., Denisov D.V., Ionov A.S., Slipchenko S.O., Lyutetskii A.V., Pikhtin N.A., Egorov A.Y. // Tech. Phys. Lett. 2019. V. 45. N 4. P. 398--400. doi 10.1134/s1063785019040205
- Botez D., Figueroa L., Wang S. // Appl. Phys. Lett. 1976. V. 29. N 8. P. 502--504. doi 10.1063/1.89138
- Mair R.A., Zeng K.C., Lin J.Y., Jiang H.X., Zhang B., Dai L., Botchkarev A., Kim W., Morkoc H., Khan M.A. // Appl. Phys. Lett. 1998. V. 72. N 13. P. 1530--1532. doi 10.1063/1.120573
- Zeng K.C., Dai L., Lin J.Y., Jiang H.X. // Appl. Phys. Lett. V. 75 (17). Р. 2563--2565. doi 10.1063/1.125078
- Babichev A.V., Pashnev D.A., Gladyshev A.G., Kurochkin A.S., Kolodeznyi E.S., Karachinsky L.Ya., Novikov I.I., Denisov D.V., Boulley L., Firsov D.A., Vorobjev L.E., Pikhtin N.A., Bousseksou A., Egorov A.Yu. // Tech. Phys. Lett. 2019. V. 45. N 11. P. 1136--1139. doi 10.1134/S106378501911018X
- Faist J., Capasso F., Sivco D.L., Sirtori C., Hutchinson A.L., Cho A.Y. // Science. 1994. V. 264. N 5158. P. 553--556. doi 10.1126/science.264.5158.553
- Lyakh A., Maulini R., Tsekoun A., Go R., Patel C.K.N. // Opt. Express. 2012. V. 20. N 22. P. 24272. doi 10.1364/oe.20.024272
- Mahler L., Tredicucci A., Beltram F., Walther C., Faist J., Witzigmann B., Beere H.E., Ritchie D.A. // Nat. Photonics. 2008. V. 3. N 1. P. 46--49. doi 10.1038/nphoton.2008.248
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.