Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2019, выпуск 9 » Статья стр. 514
<<<>>>
Безаберрационная ширина углового спектра зондирующего слоистый объект поля в конфокальной микроскопии
DOI: 10.21883/OS.2019.09.48211.381-18
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19090170
Российский научный фонд, 16-19-10528
Лякин Д.В. 1, Максимова Л.А. 1, Рябухо В.П. 1,2
1Институт проблем точной механики и управления РАН, Саратов, Россия
2Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: LDV-77@mail.ru, MaksimovaLA@yandex.ru, rvp-optics@yandex.ru
Выставление онлайн: 20 августа 2019 г.
PDF версия
Теоретически и экспериментально исследован эффект влияния числовой апертуры зондирующего объект пучка света на измеряемую с помощью конфокального интерференционного микроскопа величину при определении толщины слоистого объекта, для случая существенного влияния на сигнал сферической аберрации, возникающей в зондирующем объект пучке при его прохождении через объект. Получена зависимость измеряемой величины от числовой апертуры с учетом влияния на сигнал сферической аберрации. Установлен критерий "безаберрационного" распространения зондирующего объект пучка и определено условие, при котором влиянием сферической аберрации на сигнал конфокального микроскопа можно пренебречь. Получено приближенное аналитическое выражение, позволяющее с учетом эмпирического корректирующего фактора определить безаберрационную" ширину углового спектра зондирующего объект пучка света. Определены границы применимости аналитической зависимости измеряемой величины от числовой апертуры, которая получена ранее для случая пренебрежимо малого влияния сферической аберрации на сигнал конфокального микроскопа. Ключевые слова: конфокальная микроскопия, интерференционный микроскоп, сферическая аберрация, декорреляция, слоистый объект -18
  1. Confocal Microscopy / Ed. by Wilson T. San Diego: Academic Press, 1990. 426 p
  2. Handbook of Biological Confocal Microscopy / Ed. by Pawley J.E. 3rd ed. Berlin: Springer, 2006. 985 p
  3. Prasad V., Semwogerere D., Weeks E.R. // J. Phys. Cond. Matter. 2007. V. 19. P. 113102. doi 10.1088/0953-8984/19/11/113102
  4. Hovis D.B., Heuer A.H. // J. Microsc. 2010. V. 240. N 3. P. 173. doi 10.1111/j.1365-2818.2010.03399.x
  5. Shah S.M., Crawshaw J.P., Boek E.S. // J. Microsc. 2017. V. 265. N 2. P. 261. doi 10.1111/jmi.12496
  6. Optical Inspection of Microsystems / Ed. by Osten W. NY.: SRC Press Taylor \& Francis Group, 2007. 503 p
  7. Reyes D.R., Halter M., Hwang J. // J. Microsc. 2015. V. 259. N 1. P. 26. doi 10.1111/jmi.12245
  8. Corle T.R., Fanton J.T., Kino G.S. // Appl. Opt. 1987. V. 26. N 12. P. 2416. doi 10.1364/AO.26.002416
  9. Sheppard C.J.R., Connolly T.J., Lee J., Cogswell C.J. // Appl. Opt. 1994. V. 33. N 4. P. 631. doi 10.1364/AO.33.000631
  10. Saloma C., Matsuoka K., Kawata S. // Rev. Sci. Instrum. 1996. N 67. P. 2072. doi 10.1063/1.1147017
  11. Cox G., Sheppard C.J.R. // Micron. 2001. V. 32. P. 701. doi 10.1016/S0968-4328(01)00017-8
  12. Ilev I.K., Waynant R.W., Byrnes K.R., Anders J.J. // Opt. Lett. 2002. V. 27. N 19. P. 1693. doi 10.1364/OL.27.001693
  13. Kuypers L.C., Decraemer W.F., Dirckx J.J.J., Timmermans J.-P. // J. Microsc. 2005. V. 218. N 1. P. 68. doi 10.1111/j.1365-2818.2005.01457.x
  14. Wilson T. // J. Microsc. 2011. V. 244. N 2. P. 113. doi 10.1111/j.1365-2818.2011.03549.x
  15. Sheppard C.J.R., Gu M. // Appl. Opt. 1992. V. 31. N 14. P. 2541. doi 10.1364/AO.31.002541
  16. Hell S., Reiner G., Cremer C., Stelzer E. // J. Microsc. 1993. V. 169. N 3. P. 391. doi 10.1111/j.1365-2818.1993.tb03315.x
  17. Sheppard C.J.R., Gu M., Brain K., Zhou H. // Appl. Opt. 1994. V. 33. N 4. P. 616. doi 10.1364/AO.33.000616
  18. Wiersma S., Visser T., Torok P. // Pure Appl. Opt. 1998. V. 7. P. 1237. doi 10.1088/0963-9659/7/5/029
  19. Izatt J.A., Hee M.R., Owen G.M., Swanson E.A., Fujimoto J.G. // Opt. Lett. 1994. V. 19. N 8. P. 590. doi 10.1364/OL.19.000590
  20. Dubois A., Moneron G., Boccara C. // Opt. Commun. 2006. V. 266. N 2. P. 738. doi 10.1016/j.optcom.2006.05.016
  21. Sheppard C.J.R., Roy M., Sharma M.D. // Appl. Opt. 2004. V. 43. N 7. P. 1493. doi 10.1364/AO.43.001493
  22. Optical Coherence Tomography. Technology and Applications / Ed. by Drexler W., Fujimoto J.G. Berlin: Springer, 2008. 1326 p
  23. De Groot P., Colonna de Lega X., Kramer J., Turzhitsky M. // Appl. Opt. 2004. V. 43. N 25. P. 4821. doi 10.1364/AO.43.004821
  24. Abdulhalim I. // Ann. Phys. 2012. V. 524. N 12. P. 787. doi 10.1002/andp.201200106
  25. Gao W. // J. Mod. Opt. 2015. V. 62. N 21. P. 1764. doi 10.1080/09500340.2014.952689
  26. Labiau S., David G., Gigan S., Boccara A.C. // Opt. Lett. 2009. V. 34. N 10. P. 1576. doi 10.1364/OL.34.001576
  27. Grebenyuk A.A., Ryabukho V.P. // Opt. Lett. 2012. V. 37. N 13. P. 2529. doi 10.1364/OL.37.002529
  28. Лякин Д.В., Рябухо В.П. // Квант. электрон. 2013. Т. 43. В. 10. С. 949; Lyakin D.V., Ryabukho V.P. // Quantum Electron. 2013. V. 43. N 10. P. 949. doi 10.1070/QE2013v043n10ABEH015187
  29. Safrani A., Abdulhalim I. // Appl. Opt. 2011. V. 50. N 18. P. 3021. doi 10.1364/AO.50.003021
  30. Tearney G.J., Brezinski M.E., Southern J.F., Bouma B.E., Hee M.R., Fujimoto J.G. // Opt. Lett. 1995. V. 20. N 21. P. 2258. doi 10.1364/OL.20.002258
  31. Watanabe Y., Yamaguchi I. // Appl. Opt. 2002. V. 41. N 13. P. 2414. doi 10.1364/AO.41.002414
  32. Diaspro A., Federici F., Robello M. // Appl. Opt. 2002. V. 41. N 4. P. 685. doi 10.1364/AO.41.000685
  33. Visser T., Oud J., Brakenhoff G. // Optik. 1992. V. 90. N 1. P. 17
  34. Лякин Д.В., Максимова Л.А., Сдобнов А.Ю., Рябухо В.П. // Опт. и спектр. 2017. Т. 123. N 3. С. 463; Lyakin D.V., Maksimova L.A., Sdobnov A.Yu., Ryabukho V.P. // Opt. Spectrosc. 2017. V. 123. N 3. P. 487. doi 10.1134/S0030400X17090235
  35. Wiersma S., Torok P., Visser T., Varga P. // J. Opt. Soc. Am. A. 1997. V. 14. N 7. P. 1482. doi 10.1364/JOSAA.14.001482
  36. Рябухо В.П., Хомутов В.Л., Лякин Д.В., Константинов К.В. // Письма в ЖТФ. 1998. Т. 24. N 4. С. 19; Ryabukho V.P., Khomutov V.L., Lyakin D.V., Konstantinov K.V. // Technical Physics Letters. 1998. V. 24. N 2. P. 132. doi 10.1134/1.1262023
  37. Heil J., Heuck H.M., Muller W., Netsch M., Wesner J. // Appl. Opt. 2012. V. 51. I. 15. P. 3059. doi 10.1364/AO.51.003059
  38. Srivastava V., Nandy S., Mehta D.S. // Appl. Phys. Lett. 2013. V. 103 I. 10. P. 103702. doi 10.1063/1.4820350
  39. Zhou R., Jin D., Hosseini P., Singh V.R., Kim Y.-H., Kuang C., Dasari R.R., Yaqoob Z., So P.T.C. // Opt. Express. 2017. V. 25. N 1. P. 130. doi 10.1364/OE.25.000130
  40. Singla N., Srivastava V., Mehta D.S. // J. Biophotonics. 2018. V. 11. N 5. P. e201700279. doi 10.1002/jbio.201700279
  41. Электронный ресурс. Режим доступа: https://refractiveindex.info/?shelf=glass\&book=SCHOTT- multipurpose\&page=D263TECO
  42. De Groot P., Colonna de Lega X. // Opt. Lett. 2007. V. 32. N 12. P. 1638. doi 10.1364/OL.32.001638
  43. Ryabukho V.P., Lyakin D.V., Grebenyuk A.A., Klykov S.S. // J. Opt. 2013. V. 15. N 2. P. 025405. doi 10.1088/2040-8978/15/2/025405
  44. Рябухо В.П., Лычагов В.В., Лякин Д.В., Смирнов И.В. // Опт. и спектр. 2011. Т. 110. N 5. С. 854; Ryabukho V.P., Lychagov V.V., Lyakin D.V., Smirnov I.V. // Opt. Spectrosc. 2010. V. 110. N 5. P. 802. doi 10.1134/S0030400X11050134
  45. Korn G.A., Korn T.M. Mathematical handbook for scientists and engineers: definitions, theorems, and formulas for reference and review. New York: McGraw-Hill, 1968. 1150 p.; Корн Г., Корн Т. Справочник по математике (для научных работников и инженеров). М.: Наука, 1973. 832 с.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme