Вышедшие номера
Эллипсометрическое исследование оптических свойств соединений Ru2Ge3 и Ru2Sn3
Переводная версия: 10.1134/S0030400X1809014X
Князев Ю.В.1, Кузьмин Ю.И.1
1Институт физики металлов им. М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
Email: knyazev@imp.uran.ru
Выставление онлайн: 20 августа 2018 г.

Выполнены эллипсометрические исследования оптических свойств интерметаллических соединений Ru2Ge3 и Ru2Sn3 в интервале длин волн 0.22-15 mum. На основе сравнительного анализа экспериментальных и теоретических частотных зависимостей оптической проводимости анализируется природа межзонного поглощения света. Полученные данные подтверждают существование в электронных спектрах данных материалов энергетических щелей на уровне Ферми, предсказываемых ранее зонными расчетами. -18
  1. Rowe D.M. (Ed. by) Thermoelectrics Handbook: Micro to Nano. NY.: CRC Press, 2006. 954 p
  2. Semiconducting Silicides / Ed. by V.E. Borisenko. Berlin: Springer, 2000. 348 p
  3. Migas D.B., Miglio L., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. // Phys. Stat. Sol. B. 2002. V. 231. N 1. P. 171. doi 10.1002/1521-3951(200205)231:1<171::AID-PSSB171>3.0.CO;2-0
  4. Susz C.P., Muller J., Yvon K., Parthe E. // J. Less-Common Met. 1980. V. 71. N 1. P. 1. doi 10.1016/0022-5088(80)90111-3
  5. Gottlieb U., Laborde O., Rouault A., Madar R. // Appl. Surface Sci. 1993. V. 73. P. 243. doi 10.1016/0169-4332(93)90173-9
  6. Lenssen D., Carius R., Mesters S., Guggi D., Bay H.L., Mantl S. // Microelectronic Engineering. 2000. V. 50. P. 243. doi 10.1016/S0167-9317(99)00288-9
  7. Hayward M.A., Cava R.J. // J. Phys.: Condens. Matter. 2002. V. 14. N 25. P. 6543. doi 10.1088/0953-8984/14/25/321
  8. Kawasoko H., Takayama T., Takagi H. // Appl. Phys. Express. 2014. V. 7. N 11. P. 115801. doi 10.7567/APEX.7.115801
  9. Filonov A.B., Migas D.B., Shaposhnikov V.L., Dorozhkin N.N., Borisenko V.E., Heinrich A., Lange H. // Phys. Rev. B. 1999. V. 60. N 24. P. 16494. doi 10.1103/PhysRevB.60.16494
  10. Peheur P., Toussaint G. // Phys. Lett. A. 1991. V. 160. N 2. P. 193. doi 10.1016/0375- 9601(91)90612-C
  11. Henrion W., Rebien M., Antonov V.N., Jepsen O., Lange H. // Thin Solid Films. 1998. V. 313. P. 218. doi 10.1016/S0040-6090(97)00821-3
  12. Wolf W., Bihlmayer G., Blugel S. // Phys. Rev. B. 1997. V. 55. N 11. P. 6918. doi 10.1103/PhysRevB.55.6918
  13. Henrion W., Rebien M., Birdwell A.G., Antonov V.N., Jepsen O. // Thin Solid Films. 2000. V. 364. N 1-2. P. 171. doi 10.1016/S0040-6090(99)00958-X
  14. Shaposhnikov V.L., Ivanenko L.I., Migas D.B., Lenssen D., Carius R., Mantl S., Borisenko V.E. // Optical Materials. 2001. V. 17. N 1-2. P. 339. doi 10.1016/S0925-3467(01)00057-X
  15. Imai Y., Watanabe A. // Intermetallics. 2005. V. 13. N 2. P. 233. doi 10.1016/j.intermet.2004.08.010
  16. Shiomi Y., Saitoh E. // AIP Advances. 2017. V. 7. P. 035011. doi 10.1063/1.4978773
  17. Beattie J.R., Conn G.K.T. // Phil. Mag. 1955. V. 46. P. 222. doi 10.1080/14786440208520565
  18. Knyazev Yu.V., Lukoyanov A.V., Kuz'min Yu.I., Kuchin A.G., Nekrasov I.A. // Phys. Rev. B. 2006. V. 73. N 9. P. 094410. doi 10.1103/PhysRevB.73.094410

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.