"Оптика и спектроскопия"
Издателям
Вышедшие номера
Повышение устойчивости спектральных характеристик интерференционных покрытий к отклонению в параметрах слоев, входящих в их состав
Министерства образования и науки Российской Федерации , 16.1651.2017/4.6
Фи Нго Тхай 1, Губанова Л.А. 1, Хоа Фам Ван1
1Университет ИТМО, Санкт Петербург, Россия
Email: ngothaiphibn@gmail.com, la7777@mail.ru
Выставление онлайн: 20 июля 2018 г.

Представлен новый метод повышения устойчивости спектральных характеристик интерференционных покрытий к отклонениям в параметрах слоев, входящих в их состав. С помощью этого метода возможно получить спектральную характеристику энергетических коэффициентов пропускания (или отражения) экспериментального изготовленного покрытия, которая максимально приближена к характеристике синтезированного. Представлен способ использования нескольких образцов для контроля толщины слоев в процессе их формирования с целью уменьшения отклонения оптических слоев в процессе изготовления интерференционных покрытий. -18
  • Губанова Л.А., Путилин Э.С. Оптические покрытия. Учебник для вузов. СПб.: Лань, 2016. 286 с
  • Macleod Н.A. Thin-film optical filter. N.Y.: McGraw, 2010. 772 p
  • Dombrowski J.A. Optical properties of films and coating. V. 1. NY.: McGraw, 1995. Р. 42
  • Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Л.: Машиностроение, 1973. 224 с
  • Кокс Дж.Т., Хасс Г. // Физика тонких пленок.1967. Т. 5. М.: Мир, С. 46--83
  • Яковлев П.П., Мешков Б.Б. Проектирование интерференционных покрытий. М.: Машиностроение, 1987. 192 с
  • Sullivan B.T., Dobrowolski J.A. //Appl. Opt. 1992. V. 31. N 31. C. 3821--3835
  • Schulz U., Schallenberg U.B., Kaiser N. // Appl. Opt. 2003. Vol. 42. N 7. C. 1346--1351
  • Cheng-Chung Lee., Kai Wu. // Opt. Expr. 2005. V. 13. N 13. C. 4854--4861
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.