"Оптика и спектроскопия"
Издателям
Вышедшие номера
Фурье-спектроскопия как метод изучения фотоэлектрических свойств органических систем
Российский научный фонд, 14-12-00553
Палто С.П. 1, Алпатова А.В.1, Гейвандов А.Р. 1, Блинов Л.М. 1, Лазарев В.В. 1, Юдин С.Г. 1
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова, ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
Email: serguei.palto@gmail.com, ageivandov@yandex.ru, lbf@crys.ras.ru
Выставление онлайн: 20 января 2018 г.

Предложен новый метод изучения фотоэлектрических свойств слоистых тонкопленочных структур, основанный на широкополосной Фурье-спектроскопии, где модуляция оптической задержки осуществляется по гармоническому закону. В отличие от традиционных подходов изучения фотоэлектрических свойств c применением дисперсионных спектральных приборов предлагаемый метод позволяет не только одновременно охватывать ультрафиолетовую, видимую и инфракрасную области спектра, обеспечивая при этом широкий динамический диапазон и спектральное разрешение, но и легко варьировать низкочастотную модуляцию светового воздействия. Возможности метода продемонстрированы на примере исследования поликристаллической органической гетероструктуры; измерены ее спектральная чувствительность, быстродействие и удельная обнаружительная способность. Предложены модель и эквивалентная электрическая схема для объяснения результатов измерений. DOI: 10.21883/OS.2018.02.45526.209-17
  • Blinov L.M. Structure and Properties of Liquid Crystals. Springer, 2011
  • Chang Y.-L., Lu Z.-H. // J. Disp. Technol. 2013. V. 9. N 6. P. 459. doi 10.1109/JDT.2013.2248698
  • Manna E., Xiao T., Shinar J., Shinar R. // Electronics 2015. V. 4. P. 688. doi 10.3390/electronics4030688
  • McGehee D.G., Topinka M.A. // Nature Mater. 2006. V. 5. N 9. P. 675. doi 10.1038/nmat1723
  • Yu G., Pakbaz K., Heeger A. // J. Appl. Phys. Lett. 1994. V. 64. P. 3422. doi 10.1063/1.111260
  • Peumans P., Uchida S., Forrest S.R. // Nature 2003. V. 425. P. 158. doi 10.1038/nature01949
  • Lin H.-W., Ku S.-Y., Su H.-C., Huang C.-W., Lin Y.-T., Wong K.-T., Wu C.-C. // Adv. Mat. 2005. V. 17. P. 2489. doi 10.1002/adma.200401622
  • Hofmann O., Miller P., Sullivan P., Jones T.S., deMello J.C., Bradley D.D.C., deMello A.J. // Sens. Actuators B. 2005. V. 106. P. 878. doi 10.1016/j.snb.2004.10.005
  • Aernouts T., Aleksandrov T., Girotto C., Genoe J., Poortmans J. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. P. 033306. doi 10.1063/1.2833185
  • Палто С. П., Блинов Л.М., Яковлев С.В., Вологин В.И., Шилин Ю.Н. Патент РФ N 2239801, 2004
  • Вагин В., Гершун М., Жижин Г., Тарасов К. Светосильные спектральные приборы. М.: Наука, 1986.
  • Макарова Т.Л. // ФТП. 2001. Т. 35. N 3. С. 257
  • Kazaoui S., Minami N., Tanabe Y., Byrne H.J., Eilmes A., Petelenz P. // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. N 12. P. 7689. doi 10.1103/PhysRevB.58.7689
  • Zhou W., Xie S., Qian S., Zhou T., Zhao R., Wang G., Qian L., Li W. // J. Appl. Phys. 1996. V. 80. P. 459. doi 10.1063/1.362747
  • Лазарев В.В., Блинов Л.М., Юдин С.Г., Палто С.П. // ЖЭТФ. 2014. Т. 146. С. 854. 10.7868/S0044451014100204; Lazarev V.V., Blinov L.M., Yudin S.G., Palto S.P. // JETP. 2014. V. 119. P. 753
  • Morley J.O., Charlton M.H. // J. Phys. Chem. 1995. V. 99. P. 1928. doi 10.1021/j100007a023
  • Pfuetzner S., Meiss J., Petrich A., Riede M., Leo K. // Appl. Phys. Lett. 2009. V. 94 P. 223307-3. doi 10.1063/1.3148664
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.