Gagis G. S.
1, Kuchinskii V. I.
1, Kazantsev D. Yu.
1, Ber B. Ya.
1, Tokarev M. V.
1, Vasil’ev V. I.
11Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia
Email: gsgagis@mail.ioffe.ru, vladimir.kuch@mail.ioffe.ru, dukazantsev@mail.ioffe.ru, boris.ber@mail.ioffe.ru, mvtokarev@mail.ioffe.ru, giman@mail.ioffe.ru
The samples obtained by the method of solid phase substitution of the fifth group elements in InP with arsenic and in InAs with phosphorus during tau=30 and 70 min at temperatures t=585 and 655 oC are investigated. According to secondary ion mass spectrometry data, the elements of the fifth group penetrated to a depth of 100 nm. For InP, the amount and depth of penetration of arsenic at the same tau and t differed with different types of doping of the substrates. Keywords: Solid-phase substitution, indium arsenide, indium phosphide, zinc diffusion, secondary ion mass spectrometry.
- V.P. Khvostikov, S.V. Sorokina, O.A. Khvostikova, M.V. Nakhimovich, M.Z. Shvarts, Semiconductors, 55, 840 (2021). DOI: 10.1134/S1063782621100134
- V.I. Vasil'ev, G.S. Gagis, V.I. Kuchinskii, V.G. Danil'chenko, Semiconductors, 49, 962 (2015). DOI: 10.1134/S1063782615070234
- G.S. Gagis, V.I. Kuchinskii, D.Yu. Kazantsev, B.Ya. Ber, M.V. Tokarev, V.P. Khvostikov, M.V. Nakhimovich, A.S. Vlasov, V.I. Vasil'ev, Tech. Phys. Lett., 48 (11), 1 (2022). DOI: 10.21883/TPL.2022.11.54876.19304.
- A. Smits, S.C. Bokhorst, Z. Phys. Chem., 91U (1), 249 (1916). DOI: 10.1515/zpch-1916-9114
- B.E. Poling, G.H. Thomson, D.G. Friend, R.L. Rowley, W.V. Wilding, in Perry's chemical engineers' handbook, ed. by D.W. Green, R.H. Perry, 8th ed. (The McGraw-Hill Companies, Inc., N.Y., 2008), section 2
- I. Vurgaftman, J.R. Meyer, L.R. Ram-Mohan, J. Appl. Phys., 89 (11), 5815 (2001). DOI: 10.1063/1.1368156
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.