ПЖТФ, 2008, том 34, выпуск 14

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Рентгеновский метод исследования эмиссионной поверхности взрывного катода

М.А.Поляков, Г.Н.Фурсей, Л.А.Широчин, А.А.Контонистов

Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. М.А. Бонч-Бруевича (СПбГУТ)
E-mail:Ishir@LS4126.spb.edu

Поступило в Редакцию 17 декабря 2007 г.

Представлены результаты импульсной радиографии отпечатков электронного пучка на аноде диода со взрывоэмиссионным катодом. Показано, что данная методика может дать объективную информацию о характере эмиссионного пятна на поверхности взрывного эмиттера и позволяет провести предварительные оценки возможности его использования для формирования электронных пучков в конкретной диодной конфигурации.

PACS: 52.80.-s, 52.80.Qj

 PDF версия (351Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2008, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster