ФТТ, 2010, том 52, выпуск 4

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Применение метода TSW для исследования профиля поляризации в пленочных сегнетоэлектриках

О.В.Малышкина

Тверской государственный университет,
Тверь, Россия
E-mail: Olga.Malyshkina@mail.ru

(Поступила в Редакцию 8 июля 2009 г.)

Рассмотрена возможность применения метода TSW для анализа распределения поляризации по толщине тонкопленочного сегнетоэлектрика. Проведен расчет распределения температуры в системе сегнетоэлектрическая пленка--подложка. Для апробации метода использованы пленки тиогиподифосфата олова на алюминиевой подложке.

Работа выполнена при финансовой поддержке гранта РФФИ N 08-02-97502-p\_центр\_а и Федеральной целевой программы \glqq Научные и научно-педагогические кадры инновационной России\grqq на 2009-2013 годы.

 PDF версия (653Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2010, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster