ФТТ, 2009, том 51, выпуск 11

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Нейтронографические исследования отрицательного теплового расширения в слоистом кристалле InSe

А.И.Дмитриев\kern1pt*, В.М.Каминский\kern1pt*, Г.В.Лашкарев\kern1pt*, П.Е.Буторин\kern1pt*,**,
З.Д.Ковалюк\kern1pt*, В.И.Иванов\kern1pt*, А.И.Бескровный\kern1pt**

* Институт проблем материаловедения Национальной академии наук Украины,
Киев, Украина
** Объединенный институт ядерных исследований,
Дубна, Московская обл., Россия
E-mail: gvl35@ipms.kiev.ua

(Поступила в Редакцию 18 февраля 2009 г.)

Проанализированы нейтронографические спектры слоистого монокристалла и порошка gamma-политипа InSe в области температур 10--300 K. В области температур 10--50 K возбуждение изгибных колебаний, связанное с волнами зарядовой плотности, изменяет фононный спектр и обусловливает появление отрицательного термического расширения в плоскости слоев alpha|| c=-2.2· 10-6 K-1, характерного для двумерных структур.

Рассчитаны средние (для интервала T=50-300 K) значения коэффициентов температурного расширения вдоль главных кристаллографических направлений alpha normal c=10.48· 10-6 K-1 и alpha|| c=12.97· 10-6 K-1, которые согласуются с результатами рентгеновских исследований, полученными авторами ранее при T=290 K.

Работа частично финансировалась по программе Национальной академии наук Украины \glqq Наносистемы, наноматериалы, нанотехнологии\grqq (проект N 85/07-H).

PACS: 65.40.De, 61.12.-q

 PDF версия (516Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2009, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster