ФТТ, 2008, том 50, выпуск 11

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Методы терагерцевой-субтерагерцевой ЛОВ-спектроскопии проводящих материалов

Б.П.Горшунов, А.А.Волков, А.С.Прохоров, И.Е.Спектор

Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук,
119991 Москва, Россия
E-mail: gorshunov@ran.gpi.ru

(Поступила в Редакцию 21 февраля 2008 г.)

Рассмотрены современные спектроскопические методы измерения спектров диэлектрического отклика (проводимости и диэлектрической проницаемости) конденсированных сред в терагерцевой-субтерагерцевой области спектра. Описаны спектральные методики, разработанные на основе ЛОВ-спектрометров и предназначенные для проведения прямых (без использования соотношений Крамерса-Кронига) количественных измерений в терагерцевом-субтерагерцевом диапазоне частот (0.03-1.45 THz) спектров проводимости sigma(nu) и диэлектрической проницаемости varepsilon'(nu) проводящих и поглощающих материалов. Методики основаны на измерении спектров амплитуды и фазы коэффициента пропускания пленочных образцов на диэлектрических подложках и спектров коэффициента отражения эталонной плоскопараллельной диэлектрической пластины, находящейся в контакте с поверхностью исследуемого образца. Приведены примеры использования методик для измерения спектров sigma(nu) и varepsilon'(nu) проводников и сверхпроводников.

Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований в рамках гранта N 07-02-12009-офи.

PACS: 07.57.Pt, 07.57.Ty, 52.70.Kz

 PDF версия (1.3Mb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2008, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster