| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Реакция электросопротивления пленок (40 nm)LaCaMnO, механически сжатых подложкой в процессе своего формирования,
на магнитное и электрическое поля
Ю.А.Бойков, В.А.Данилов
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
E-mail: yu.boikov@mail.ioffe.ru
(Поступила в Редакцию 26 июля 2007 г.)
|
Исследованы структура и электросопротивление эпитаксиальных пленок (40 nm)LaCaMnO, выращенных квазикогерентно на поверхности подложек (001)LaAlO. Сжимающие в плоскости подложки механические напряжения, действовавшие в процессе зародышеобразования и роста, способствовали уменьшению эффективного объема элементарной ячейки и увеличению относительной концентрации четырехвалентных ионов марганца в манганитных слоях. Это обусловило понижение температуры максимума на температурной зависимости электросопротивления пленок примерно на 90 K по сравнению с температурой Кюри для соответствующих стехиометрических объемных кристаллов. При K и ( --- напряженность магнитного поля) наблюдалась нелинейная зависимость измерительного тока от приложенного к контактам напряжения . Увеличение и способствовало лианеризации вольт-амперных характеристик пленок. Финансовая поддержка данных исследований частично получена из проекта NMP3-СТ-2006-033191 Европейской программы FP6 и проекта Роснауки 2007-3-1.3-00-02-020, N 02.513.11.3332. PACS: 73.43.Qt, 73.50.-h |
| PDF версия (257Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2008, Коллектив авторов Разработано... webmaster |