ФТТ, 2008, том 50, выпуск 2

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Свойства наноструктурных и аморфных пленок системы TiB2-B4C

Г.В.Калинников, Р.А.Андриевский, В.Н.Копылов\kern1pt*, D.Louzguine\kern1pt**

Институт проблем химической физики Российской академии наук,
142432 Черноголовка, Московская обл., Россия
* Институт физики твердого тела Российской академии наук,
142432 Черноголовка, Московская обл., Россия
** Institute for Materials Research, Tohoku University,
Sendai, 980-8577, Japan
E-mail: kgv@icp.ac.ru

(Поступила в Редакцию 21 июня 2007 г.)

Исследовались свойства наноструктурных и рентгеноаморфных пленок системы TiB2-B4C, полученных с помощью метода магнетронного нереактивного распыления, в том числе с наложением внешнего дополнительного магнитного поля с индукцией до 0.3 T. Методы электронно-микроскопического анализа на просвет, микродифракции и рентгенофазового анализа, а также атомно-силовой микроскопии и микродюрометрии использовались для изучения размера зерен, фазового состава, преимущественной текстуры, шероховатости и твердости напыленных пленок. Обсуждаются особенности фазовой диаграммы применительно к пленкам и влияние наложения магнитного поля на их свойства.

Работа выполнена при поддержке программы фундаментальных исследований Президиума РАН (П-9) и проектов РФФИ (N 05-03-32248 и 06-03-90566).

PACS: 68.37.Lp, 81.07.Bc

 PDF версия (237Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2008, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster