ФТТ, 2007, том 49, выпуск 10

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Кристаллографические характеристики и фазовые переходы кристалла [(C2H5)4N]2CdBr4 в области низких температур

А.У.Шелег, Е.М.Зуб, А.Я.Ячковский

Объединенный институт физики твердого тела и полупроводников Национальной академии наук Белоруссии,
220072 Минск, Белоруссия
E-mail: sheleg@ifttp.bas-net.by

(Поступила в Редакцию 19 февраля 2007 г.)

Приводятся результаты рентгенографических исследований кристалла [N(C2H5)4]2CdBr4 при низких температурах. Проведены измерения параметров элементарной ячейки и определены коэффициенты теплового расширения вдоль основных кристаллографических направлений в области температур 90-320 K. Исследовано поведение интегральных интенсивностей дифракционных рефлексов в зависимости от температуры. Показано, что на кривых a=f(T), c=f(T), I500=f(T) и I006=f(T) при T1~ 174 K и T2~ 226 K наблюдаются аномалии в виде резких изменений параметров элементарной ячейки и интенсивностей дифракционных рефлексов, что свидетельствует о наличии в кристалле [N(C2H5)4]2CdBr4 при этих температурах фазовых переходов. Обнаружена также аномалия в виде небольшого максимума при T3=293 K.

PACS: 64.70.Kb, 61.50.Ks

 PDF версия (249Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2007, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster