ФТТ, 2006, том 48, выпуск 6

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Нелинейно-оптическая и микрорамановская диагностика
тонких пленок и наноструктур сегнетоэлектриков ABO3

Е.Д.Мишина, Н.Э.Шерстюк, В.О.Вальднер, А.В.Мишина, К.А.Воротилов, В.А.Васильев,
А.С.Сигов, M.P.De Santo\kern1pt*, E.Cazzanelli\kern1pt*, R.Barberi\kern1pt*, Th.Rasing\kern1pt**

Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (Технический университет),
119454 Москва, Россия
E-mail: mishina
* Universit\grave a della Calabria, Rende, Italy
** IMM, Radboud University Nijmegen, The Netherlands

Представлены результаты исследования сегнетоэлектрических композитных двумерных наноструктур сегнетоэлектрик/оксид алюминия. Пористая матрица оксида алюминия использовалась в качестве шаблона, в который внедрялся сегнетоэлектрический прекурсор с последующим отжигом. Полученные наноструктуры исследовались методом генерации второй оптической гармоники и микрорамановского рассеяния.

Авторы благодарят за финансовую поддержку работы Российский фонд фундаментальных исследований (гранты N 03-02-16945, 04-02-17248), ИНТАС (грант N 01-0075), а также Министерство образования и науки РФ (проект 84-43).

PACS: 77.84.Dy, 78.20.-e

 PDF версия (225Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster