ФТТ, 2006, том 48, выпуск 1

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Структура интерфейсов многослойных систем в спектрах зеркального рассеяния рентгеновского излучения

В.П.Романов\kern1pt*, С.В.Уздин\kern1pt*, В.М.Уздин\kern1pt**, С.В.Ульянов\kern1pt*,***

* Научно-исследовательский институт им. В.А. Фока, Санкт-Петербургского государственного университета,
198904 Санкт-Петербург, Петергоф, Россия
** Санкт-Петербургский государственный университет,
199178 Санкт-Петербург, Россия
*** Санкт-Петербургский торгово-экономический институт,
194021 Санкт-Петербург, Россия
E-mail: v.romanov@pobox.spbu.ru,
        serge@vu1864.spb.edu,
        uzdin@icape.nw.ru,
        ulyanov@infos.ru

(Поступила в Редакцию 9 марта 2005 г.)

Исследовано влияние пространственной структуры интерфейса в многослойных металлических пленках на форму спектра зеркального рассеяния рентгеновского излучения. Рассмотрено два типа структурных дефектов на интерфейсе --- ступеньки, приводящие к переменной толщине слоев, и перемешивание атомов разных металлов в процессе эпитаксиального роста. Показано, что эти механизмы по-разному проявляются в спектрах зеркального рассеяния. Вследствие перемешивания заметно снижаются высоты брэгговских пиков, особенно высоких порядков. Шероховатости интерфейса приводят к уширению брэгговских пиков и исчезновению промежуточных пиков между ними.

Работа частично поддержана грантами ИНТАС 01-0386, 03-51-4778 и Российского фонда фундаментальных исследований 04-02-16024.

PACS: 73.21.Ac, 78.70.Ck

 PDF версия (449Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster