ФТТ, 2005, том 47, выпуск 7

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Анализ пространственного распределения ориентировок элементов структуры поликристаллов, получаемого методами просвечивающей электронной микроскопии и обратно рассеянного пучка электронов в сканирующем электронном микроскопе

С.Ю.Миронов, В.Н.Даниленко, М.М.Мышляев *, А.В.Корнева

Институт проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук,
450001 Уфа, Россия
* Институт физики твердого тела Российской академии наук,
142432 Черноголовка, Московская обл., Россия

(Поступила в Редакцию 31 августа 2004 г.)

Проведен анализ достоинств и недостатков метода автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) по сравнению с просвечивающей электронной микроскопией (ПЭМ) при изучении пространственного распределения ориентировок. Осуществлено сравнительное экспериментальное исследование спектра разориентировок с помощью ПЭМ- и EBSD-анализа модельного материала (сплав нихром H20X80) с повышенным содержанием двойников отжига.

Работа выполнена при поддержке РФФИ (проекты 04-02-16129, 04-02-97261, 04-02-17627).

 PDF версия (339Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2005, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster