ФТТ, 2004, том 46, выпуск 8

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Концентрационная зависимость радиационно-стимулированных изменений оптических свойств пленок GexAs40-xS60

В.Т.Маслюк, Е.Скордева *, П.П.Пуга, Д.Арсова *, В.Памукчиева *

Институт электронной физики Национальной академии наук Украины,
88016 Ужгород, Украина
* Институт физики твердого тела Болгарской академии наук,
1784 София, Болгария
E-mail: maslyuk@univ.uzhgorod. ua

(Поступила в Редакцию 12 ноября 2003 г.)

Представлены результаты исследования концентрационной зависимости радиационно-индуцированных изменений оптических свойств халькогенидных стекол (ХС) системы Ge--As--S. Теоретический расчет учитывает возможные ограничения на область \glqq переключений\grqq гомо-, гетеросвязей структурной сетки ХС. Экспериментальные данные получены при облучении (быстрые электроны, 6 MeV) тонких пленок системы GexAs40-xS60. Обсуждается возможный механизм структурных превращений ХС, ответственный за особенности концентрационной зависимости амплитуды изменения их ширины запрещенной зоны.

Работа выполнена в рамках международного Болгаро-Украинского договора о научном сотрудничестве между академическими институтами.

 PDF версия (230Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2004, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster