ФТТ, 2004, том 46, выпуск 7

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Рентгенографические исследования кристалла [N(CH3)4]2ZnCl4 в области низких температур

А.У.Шелег, А.М.Наумовец

Институт физики твердого тела и полупроводников Национальной академии наук Белоруссии,
220072 Минск, Белоруссия
E-mail: sheleg@ifttp.bas-net.by

(Поступила в Редакцию 30 октября 2003 г.)

Рентгенографическим методом в интервале температур 80-293 K измерены параметры элементарной ячейки a, b и c кристалла [N(CH3)4]2ZnCl4. Получены температурные зависимости коэффициентов теплового расширения alphaa, alphab и alphac вдоль основных кристаллографических осей и коэффициента теплового раcширения объема элементарной ячейки alphaV. Показано, что при температурах фазовых переходов T1=161 и T2=181 K на кривых a=f(T), b=f(T) и c=f(T) наблюдаются аномалии в виде скачков, а фазовый переход при T3=276 K на кривых a=f(T) и b=f(T) проявляется в виде излома. Обнаружена небольшая анизотропия коэффициента теплового расширения в исследованном кристалле. Установлено, что фазовые переходы при T1=161 и T2=181 K в кристалле [N(CH3)4]2ZnCl4 относятся к первому роду.

 PDF версия (186Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2004, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster