ФТТ, 2004, том 46, выпуск 7

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние изовалентного легирования пленок манганитов (La1-xPrx)0.7Ca0.3MnO3 (0=<q x=<q1) на оптические, магнитооптические и транспортные свойства вблизи перехода металл--изолятор

Ю.П.Сухоруков, Н.Н.Лошкарева, Е.А.Ганьшина *, А.Р.Кауль *, О.Ю.Горбенко *,
Е.В.Мостовщикова, А.В.Телегин, А.Н.Виноградов *, И.К.Родин *

Институт физики металлов Уральского отделения Российской академии наук,
620219 Екатеринбург, Россия
* Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова,
119899 Москва, Россия
E-mail: suhorukov@imp.uran.ru

(Поступила в Редакцию 28 октября 2003 г.)

Исследованы оптические, магнитооптические и электрические свойства эпитаксиальных пленок (La1-xPrx)0.7Ca0.3MnO3 (0=<q x=<q1), выращенных методом химического осаждения из паровой фазы металлорганических соединений на подложках LaAlO3 и SrTiO3. Показано, что вследствие уменьшения среднего радиуса катиона при изовалентном замещении La ионами Pr происходит уменьшение температуры Кюри, температуры перехода металл--диэлектрик, температуры максимумов магнитопропускания и магнитосопротивления. Значения этих температур слабо зависят от типа подложки. Замена La на Pr не изменяет вида спектральных зависимостей экваториального эффекта Керра. В области концентраций x=<q0.50 максимальные значения эффекта Керра и МТ меняются незначительно, что связано с существованием при низких температурах односвязной ферромагнитной металлической области. Для пленок с x=0.75 получено доказательство наличия ферромагнитных металлических капель в антиферромагнитной изолирующей матрице. Совокупность экспериментальных данных свидетельствует о том, что наноскопические магнитные и электронные неоднородности существуют и в односвязной металлической области, и в пленке с x=1, которая является антиферромагнитным диэлектриком.

Работа поддержана ФЦНТП-40.012.1.1.1153-7/03, РФФИ-02-02-16429, РФФИ-03-02-06032, РФФИ-03-02-06301 и РФФИ-02-03-33258, проектом ООФА РАН.

 PDF версия (395Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2004, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster