| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Электронная локализация в проводящих пленках Ленгмюра--Блоджетт
Л.А.Галченков, С.Н.Иванов, И.И.Пятайкин
Институт радиотехники и электроники Российской академии наук,
125009 Москва, Россия
E-mail: iip@mail.cplire.ru
(Поступила в Редакцию 14 октября 2003 г.)
|
Изучена температурная зависимость внутрикристаллитной проводимости пленок Ленгмюра--Блоджетт комплекса с переносом заряда (КПЗ) (CH--TCNQ)(CH--DMTTF), измеренная по затуханию поверхностных акустических волн в пьезоэлектрических линиях задержки, покрытых исследуемой пленкой ((CH--TCNO)(CH--DMTTF) --- поверхностно-активный КПЗ на основе смеси гептадецилдиметилтетратиафульвалена (CH--DMTTF) и гексадецилтетрацианохинодиметана (CH--TCNQ)). Обнаружено, что на температурной зависимости внутрикристаллитной проводимости при K имеется максимум, причем выше проводимость пленок носит металлический характер , а ниже этой температуры изменяется по закону, близкому к одномерному моттовскому. Показано, что уменьшение проводимости с понижением температуры при связано с локализацией электронных состояний в изучаемой нами квазиодномерной системе и вызвано наличием примесей и дефектов в цепочках TCNQ, по которым происходит распространение заряда. Установлено, что наблюдаемое изменение проводимости с температурой ниже качественно и количественно согласуется с моделью локализации в квазиодномерной системе со слабым беспорядком, предложенной ранее Нахмедовым, Пригодиным и Самухиным. Аппроксимация экспериментальных результатов теоретическими зависимостями, полученными в рамках этой модели, позволила установить времена электрон-фононного и электрон-примесного рассеяния. Исходя из параметров структуры проводящего слоя оценены плотность состояний на уровне Ферми и скорость Ферми в исследованных пленках, что позволило определить длины свободного пробега и локализации в них. Работа поддержана Российским фондом фундаментальных исследований (проекты N 01-02-16068 и 03-02-22001) и грантом президента РФ по поддержке ведущих научных школ (НШ 1391.2003.2). |
| PDF версия (291Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2004, Коллектив авторов Разработано... webmaster |