ФТТ, 2003, том 45, выпуск 3

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние электрического тока на миграцию межузельных атомов водорода у вершины трещины в кристалле

Д.Н.Карпинский, С.В.Санников

Научно-исследовательский институт механики и прикладной математики Ростовского государственного университета,
344090 Ростов-на-Дону, Россия
E-mail: karp@math.rsu.ru

(Поступила в Редакцию в окончательном виде 8 апреля 2002 г.)

Дана оценка влияния постоянного электрического тока на миграцию точечных дефектов, растворенных в кристалле у вершины трещины растяжения. Расчет учитывает пластическую деформацию у вершины трещины в нагруженном образце, обусловленную движением дислокаций в плоскостях активного скольжения кристалла под действием сдвиговых напряжений механического и электрического происхождения, выделение джоулева тепла, эффект Томсона и действие пондеромоторных сил, а также влияние газообмена на берегах трещины на эволюцию распределения межузельных примесных атомов. Получены временные распределения коэффициента интенсивности напряжения при протекании постоянного электрического тока у вершины трещины и без него. Численные расчеты выполнены для кристалла alpha-Fe.

 PDF версия (117Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2003, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster