ФТТ, 2000, том 42, выпуск 7

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние относительной величины эффекта Яна--Теллера
и расщепления в кубическом кристаллическом поле на свойства
основного состояния вакансионных дефектов в полупроводниках

Н.С.Аверкиев, А.А.Гуткин, С.Ю.Ильинский

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия

(Поступила в Редакцию 23 декабря 1999 г.)

Рассмотрено пространственное строение и свойства электронных уровней вакансии в полупроводнике с точечной Td-симметрией решетки при произвольном соотношении между энергией ян-теллеровской стабилизации, связанной с F2-модой колебаний, и t2-a1 расщеплением (Delta), обусловленным кубическим кристаллическим полем. Для основного состояния вакансии вычислены положение минимума адиабатического потенциала и искажение электронной плотности в зависимости от соотношения между Delta и константами взаимодействия с F2-колебаниями.

Продемонстрировано, что, если основным состоянием связанного на вакансии носителя является t2-состояние, тригональная симметрия окружения вакансии сохраняется при любых величинах Delta, однако величина смещения атомов решетки вблизи вакансии и степень локализации волновой функции связанного носителя на выделенной эффектом Яна--Теллера оборванной связи могут сильно зависеть от Delta и максимальны при Delta-> 0. Аналогичная ситуация сохраняется и в случае, если основным состоянием вакансии является a1-состояние, а абсолютная величина Delta не превышает определенной величины, задаваемой константами взаимодействия и коэффициентом упругости.

Показано, что соотношение между Delta и константами взаимодействия влияет и на свойства тригональных комплексов вакансия--мелкий донор. Для таких комплексов вычислена зависимость направления диполя, описывающего оптические свойства дефекта, от возмущения вакансионных орбиталей донором в комплексе.

Работа была поддержана Российским фондом фундаментальных исследований (грант N 98-02-18327).

 PDF версия (140Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2000, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster