| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Электрофизические и морфологические свойства пленок CdTe, синтезированных методом молекулярного наслаивания
В.А.Майоров , А.М.Яфясов, В.Б.Божевольнов, В.Ф.Раданцев
Санкт-Петербургский государственный университет (физический факультет),
198504 Санкт-Петербург, Россия
Уральский государственный университет,
620083 Екатеринбург, Россия
(Получена 25 августа 2009 г. Принята к печати 15 сентября 2009 г.)
| Пленки теллурида кадмия синтезированы методом молекулярного наслаивания на подложках из графита, слюды и кремния. Получены однородные фоточувствительные слои площадью 65 см, толщиной от 0.5 до 5 мкм с концентрацией дырок см (300 K). |
| PDF версия (1.0Mb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2010, Коллектив авторов Разработано... webmaster |