ФТП, 2010, том 44, выпуск 1

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Перенос носителей зарядов в пленках халькогенидного стеклообразного полупроводника
состава Ge20As20S60

Л.П.Казакова, К.Д.Цэндин, Э.А.Лебедев, Д.Арсова*, И.А.Обухова+

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
* Институт физики твердого тела Болгарской академии наук,
1784 София, Болгария
+ Санкт-Петербургская государственная лесотехническая академия им. С.М. Кирова,
194021 Санкт-Петербург, Россия

(Получена 9 июня 2009 г. Принята к печати 30 июня 2009 г.)

Проведено исследование переноса носителей заряда в пленках состава Ge20As20S60 методом измерения времени пролета в режиме слабой инжекции при комнатной температруре.

Получено, что значения дрейфовых подвижностей электронов и дырок в пленках Ge20As20S60 близки: mue~muh~ 2·10-3 см2В-1с-1 при T=295 K и F=5· 104 В/см.

Показано, что характер зависимости фототока от времени при дрейфе носителей заряда и зависимости дрейфовой подвижности от напряжения позволяют использовать представления об аномальном дисперсионном переносе.

Экспериментальные данные объяснены в модели переноса, контролируемого захватом носителей на локализованные состояния, распределение которых по энергии вблизи краев зоны проводимости и валентной зоны описывается экспоненциальным законом с характеристической энергией ~0.05 эВ.

 PDF версия (490Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2010, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster