ФТП, 2010, том 44, выпуск 1: page 26...

ФТП, 2010, том 44, выпуск 1

Содержание	Предыдущая статья	Следующая статья	Поиск

Определение состава бинарных халькогенидных стекол методом рентгенофлуоресцентного анализа

Г.А.Бордовский, А.В.Марченко, П.П.Серегин^\kern1pt, Н.Н.Смирнова^\kern1pt*, Е.И.Теруков^\kern1pt*

Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена,
191186 Санкт-Петербург, Россия
^* Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия

(Получена 9 июня 2009 г. Принята к печати 15 июня 2009 г.)

Для определения количественного содержания германия, мышьяка, серы и селена в стеклообразных сплавах As

_1-xS

_x, Ge

_1-xS

_x, As

_1-xSe

_x и Ge

_1-xSe

_x методом рентгенофлуоресцентного анализа реализован метод стандарта. Использование указанной методики позволяет определить количественный состав стекол As

_1-xS

_x, Ge

_1-xS

_x, As

_1-xSe

_x и Ge

_1-xSe

_x с точностью

±0.001

по параметру

x

PDF версия (533Kb) Другие выпуски Другие журналы Помощь

Copyright (C) 2010, Коллектив авторов Разработано... webmaster