ФТП, 2009, том 43, выпуск 11

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Структура и кинетика кристаллизации тонких аморфных
пленок Yb1-xSmxAs4S7

Э.Ш.Гаджиев, А.И.Мададзаде, Д.И.Исмаилов

Институт физики Национальной академии наук Азербайджана,
AZ-1143 Баку, Азербайджан

(Получена 19 марта 2009 г. Принята к печати 7 апреля 2009 г.)

Получена кривая интенсивности рассеяния электронов в зависимости от угла рассеяния для аморфных пленок Yb1-xSmxAs4S7 (x=0.02 ат%). Построена кривая радиального распределения атомов, определены радиусы координационных сфер и парциальные координационные числа. Установлены кинетические параметры фазовых превращений при кристаллизации аморфных пленок Yb1-xSmxAs4S7 (x=0.02 ат%), полученных как в обычных условиях, так и в условиях воздействия внешнего электрического поля.

PACS: 61.43.Dq

 PDF версия (590Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2009, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster