| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Исследование влияния ультразвукового воздействия на генерационные характеристики предварительно облученной границы раздела кремний--диоксид кремния
П.Б.Парчинский, С.И.Власов, Л.Г.Лигай
Национальный университет Узбекистана,
700174 Ташкент, Узбекистан
(Получена 9 июня 2004 г. Принята к печати 28 декабря 2005 г.)
|
При помощи метода релаксации неравновесной емкости структуры металл--окисел--полупроводник изучено влияние ультразвукового воздействия на генерационные параметры границы раздела Si-SiO, облученной -квантами. Обнаружено уменьшение генерационного времени жизни под влиянием ультразвуковой обработки. Показано, что в облученных и необлученных структурах изменение генерационных параметров под влиянием ультразвука носит существенно различный характер. PACS: 73.40.Qv, 73.20.Hb, 61.80.Ed, 73.50.Gr |
| PDF версия (120Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2006, Коллектив авторов Разработано... webmaster |