| Другие выпуски | Другие журналы | Поиск |
|---|
| Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников | |
| Дубровский В.Г., Сибирев Н.В., Цырлин Г.Э., Устинов В.М. Теория формирования многослойных тонких пленок на поверхности твердого тела | 257 |
|---|---|
| Адамашвили Г.Т., Адамашвили Н.Т., Моцонелидзе Г.Н., Пейкришвили М.Д. Поверхностные акустические бризеры в полупроводниках | 264 |
| Мирзаде Ф.Х. Нелинейные продольные волны взаимодействующих полей деформации и концентрации дефектов в германии и кремнии | 269 |
| Венгренович Р.Д., Москалюк А.В., Ярема С.В. Распределение островков по размерам в условиях дислокационно-поверхностной диффузии для полупроводниковых гетероструктур | 276 |
| Электронные и оптические свойства полупроводников | |
| Белогорохов А.И., Флоренцев А.А., Белогорохов И.А., Пашкова Н.В., Елютин А.В. Ширина запрещенной зоны и оптические свойства твердых растворов CdHgZnTe в ультрафиолетовой и видимой области спектра | 281 |
| Пляцко С.В., Рашковецкий Л.В. Лазерностимулированная компенсация объемных дефектов в -CdZnTe | 287 |
| Горский П.В. Электропроводность слоистых зарядово-упорядоченных кристаллов в квантующем магнитном поле в области инверсии неосциллирующей части магнитосопротивления | 296 |
| Давыдов С.Ю., Посредник О.В. О влиянии вакансий в подрешетках кремния и углерода на формирование барьера Шоттки на контакте металл--SiC | 304 |
| Любимский В.М. Модель проводимости поликристаллического кремния -типа, учитывающая растекание тока в кристаллитах | 307 |
| Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность | |
| Тягинов С.Э., Векслер М.И., Шулекин А.Ф., Грехов И.В. Влияние неоднородности толщины диэлектрика на переключение туннельной МОП структуры Al/SiO/-Si при обратном смещении | 314 |
| Карпович И.А., Тихов С.В., Шоболов Е.Л., Андрющенко И.А. Образование дефектов в GaAs и Si при осаждении Pd на поверхность | 319 |
| Болховитянов Ю.Б., Дерябин А.С., Гутаковский А.К., Ревенко М.А., Соколов Л.В. О зарождении дислокаций несоответствия с поверхности при выращивании пленок GeSi / Si (001) методом низкотемпературной (C) молекулярной эпитаксии | 324 |
| Комащенко В.Н., Колежук К.В., Ярошенко Н.В., Шереметова Г.И., Бобренко Ю.Н. Спектральная чувствительность гетероструктур -CuS/-ZnS/-AB | 332 |
| Низкоразмерные системы | |
| Соболев М.М., Жуков А.Е., Васильев А.П., Семенова Е.С., Михрин В.С., Цырлин Г.Э., Мусихин Ю.Г. Связывание состояний электронов в молекуле квантовых точек InAs/GaAs | 336 |
| Дроздов Ю.Н., Красильник З.Ф., Лобанов Д.Н., Новиков А.В., Шалеев М.В., Яблонский А.Н. Особенности фотолюминесценции самоформирующихся островков Ge(Si)/Si (001), выращенных на напряженном слое SiGe | 343 |
| Михрин В.С., Васильев А.П., Семенова Е.С., Крыжановская Н.В., Гладышев А.Г., Мусихин Ю.Г., Егоров А.Ю., Жуков А.Е., Устинов В.М. Гетероструктуры с квантовыми ямами и квантовыми точками InAs/InGaNAs/GaNAs, излучающие в спектральном диапазоне 1.4--1.8 мкм | 347 |
| Физика полупроводниковых приборов | |
| Карлина Л.Б., Власов А.С., Кулагина М.М., Тимошина Н.Х. Термофотоэлектрические преобразователи на основе гетероструктур InGaAs/InP | 351 |
| Зотова Н.В., Ильинская Н.Д., Карандашев С.А., Матвеев Б.А., Ременный М.А., Стусь Н.М., Шленский А.А. Светодиоды флип-чип на основе InGaAsSb/GaSb, излучающие на длине волны 1.94 мкм | 356 |
| Пожела Ю.К., Мокеров В.Г. Большое повышение максимальной дрейфовой скорости электронов в канале полевого гетеротранзистора | 362 |
| Мокеров В., Пожела Ю., Пожела К., Юцене В. Гетероструктурный транзистор на квантовых точках с повышенной максимальной дрейфовой скоростью электронов | 367 |
| Бойко А.М., Сурис Р.А. Роль одномерной диффузии в модели роста поверхности кристалла Косселя | 372 |
| Ефремов А.А., Тархин Д.В., Бочкарева Н.И., Горбунов Р.И., Ребане Ю.Т., Шретер Ю.Г. Определение коэффициента ослабления света в тонких слоях светодиодных структур | 380 |