ФТП, 2006, том 40, выпуск 3

 Другие выпуски  Другие журналы  Поиск  
 
   Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников
 
Дубровский В.Г., Сибирев Н.В., Цырлин Г.Э., Устинов В.М.
Теория формирования многослойных тонких пленок на поверхности твердого тела
257
 
Адамашвили Г.Т., Адамашвили Н.Т., Моцонелидзе Г.Н., Пейкришвили М.Д.
Поверхностные акустические бризеры в полупроводниках
264
 
Мирзаде Ф.Х.
Нелинейные продольные волны взаимодействующих полей деформации и концентрации дефектов в германии и кремнии
269
 
Венгренович Р.Д., Москалюк А.В., Ярема С.В.
Распределение островков по размерам в условиях дислокационно-поверхностной диффузии
для полупроводниковых гетероструктур
276
 
   Электронные и оптические свойства полупроводников
 
Белогорохов А.И., Флоренцев А.А., Белогорохов И.А., Пашкова Н.В., Елютин А.В.
Ширина запрещенной зоны и оптические свойства твердых растворов CdxHg1-x-yZnyTe в ультрафиолетовой
и видимой области спектра
281
 
Пляцко С.В., Рашковецкий Л.В.
Лазерностимулированная компенсация объемных дефектов в p-CdZnTe
287
 
Горский П.В.
Электропроводность слоистых зарядово-упорядоченных кристаллов в квантующем магнитном поле в области инверсии неосциллирующей части магнитосопротивления
296
 
Давыдов С.Ю., Посредник О.В.
О влиянии вакансий в подрешетках кремния и углерода на формирование барьера Шоттки на контакте металл--SiC   
304
 
Любимский В.М.
Модель проводимости поликристаллического кремния p-типа, учитывающая растекание тока в кристаллитах
307
 
   Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность
 
Тягинов С.Э., Векслер М.И., Шулекин А.Ф., Грехов И.В.
Влияние неоднородности толщины диэлектрика на переключение туннельной МОП структуры Al/SiO2/n-Si при обратном смещении
314
 
Карпович И.А., Тихов С.В., Шоболов Е.Л., Андрющенко И.А.
Образование дефектов в GaAs и Si при осаждении Pd на поверхность
319
 
Болховитянов Ю.Б., Дерябин А.С., Гутаковский А.К., Ревенко М.А., Соколов Л.В.
О зарождении дислокаций несоответствия с поверхности при выращивании пленок GeSi / Si (001) методом
низкотемпературной (300-400o C) молекулярной эпитаксии
324
 
Комащенко В.Н., Колежук К.В., Ярошенко Н.В., Шереметова Г.И., Бобренко Ю.Н.
Спектральная чувствительность гетероструктур p-Cu1.8S/n--ZnS/n-A IIB VI
332
 
   Низкоразмерные системы
 
Соболев М.М., Жуков А.Е., Васильев А.П., Семенова Е.С., Михрин В.С., Цырлин Г.Э., Мусихин Ю.Г.
Связывание состояний электронов в молекуле квантовых точек InAs/GaAs
336
 
Дроздов Ю.Н., Красильник З.Ф., Лобанов Д.Н., Новиков А.В., Шалеев М.В., Яблонский А.Н.
Особенности фотолюминесценции самоформирующихся островков Ge(Si)/Si (001), выращенных на напряженном слое Si1-xGex
343
 
Михрин В.С., Васильев А.П., Семенова Е.С., Крыжановская Н.В., Гладышев А.Г., Мусихин Ю.Г., Егоров А.Ю., Жуков А.Е., Устинов В.М.
Гетероструктуры с квантовыми ямами и квантовыми точками InAs/InGaNAs/GaNAs, излучающие в спектральном диапазоне 1.4--1.8 мкм
347
 
   Физика полупроводниковых приборов
 
Карлина Л.Б., Власов А.С., Кулагина М.М., Тимошина Н.Х.
Термофотоэлектрические преобразователи
на основе гетероструктур In0.53Ga0.47As/InP
351
 
Зотова Н.В., Ильинская Н.Д., Карандашев С.А., Матвеев Б.А., Ременный М.А., Стусь Н.М., Шленский А.А.
Светодиоды флип-чип на основе InGaAsSb/GaSb, излучающие на длине волны 1.94 мкм
356
 
Пожела Ю.К., Мокеров В.Г.
Большое повышение максимальной дрейфовой скорости электронов в канале полевого гетеротранзистора
362
 
Мокеров В., Пожела Ю., Пожела К., Юцене В.
Гетероструктурный транзистор на квантовых точках с повышенной максимальной дрейфовой скоростью электронов  
367
 
Бойко А.М., Сурис Р.А.
Роль одномерной диффузии в модели роста поверхности
кристалла Косселя
372
 
Ефремов А.А., Тархин Д.В., Бочкарева Н.И., Горбунов Р.И., Ребане Ю.Т., Шретер Ю.Г.
Определение коэффициента ослабления света в тонких слоях светодиодных структур
380


Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster